GB/T 4937.34-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
GB/T 4937.34-2024 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 34: Power cycling
国家标准
中文简体
现行
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4937.34-2024
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2024-03-15
实施日期
2024-07-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
中华人民共和国工业和信息化部
适用范围
本文件描述了一种确定半导体器件对热应力和机械应力耐受能力的方法，通过对器件内部芯片和连接结构施加循环耗散功率来实现。试验时，周期性施加和移除正向偏置（负载电流)，使其温度快速变化。本试验是模拟电力电子的典型应用，也是对高温工作寿命（见IEC 60749-23)的补充。其失效机理可能不同于空气对空气温度循环试验及双液槽法快速温变试验。本试验会导致损伤，是破坏性试验。
发布历史
-
2024年03月
文前页预览
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 张艳杰、崔万国、裴选
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：17 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.342024IEC60749-342010
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分功率循环
34
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:
Part34Powercclin
yg
(:,)
IEC60749-342010IDT
2024-03-15发布2024-07-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
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