GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则
GB/T 4937.1-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 1:General
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。
当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。
发布历史
-
2006年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 陈海蓉、崔波
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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