GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
GB/T 4937.30-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
国家标准
中文简体
现行
页数：9页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-
发布历史
-
2018年09月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院
- 起草人：
- 裴选、彭浩、高瑞鑫、高金环、刘玮
- 出版信息：
- 页数：9页 | 字数：16 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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