GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)

GB/T 4937.26-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 26:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Human body model(HBM)

国家标准 中文简体 现行 页数:45页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937.26-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
本文件依据元器件和微电路对规定的人体模型(HBM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度,建立了元器件和微电路的ESD测试、评价和分级程序。本文件的目的是建立一种能够复现HBM失效的测试方法,并为不同类型的元器件提供可靠、可重复的HBM ESD测试结果,且测试结果不因测试设备而改变。重复性数据可以保证HBM ESD敏感度等级的准确划分及对比。半导体器件的ESD测试从本测试方法、机器模型(MM)测试方法(见IEC 6074927)或IEC 60749(所有部分)中的其他ESD测试方法中选择。除另有规定外,本测试方法为所选方法。

研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、捷捷半导体有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司
起草人:
高蕾、张魁、鲁世斌、迟雷、翟玉颖、彭浩、高金环、张瑞霞、黄杰、赵鹏、徐昕、魏兵、黎重林、颜天宝、金哲
出版信息:
页数:45页 | 字数:89 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT4937.262023IEC60749-262018

半导体器件机械和气候试验方法

:()

第部分静电放电敏感度测试

26ESD

人体模型()

HBM

——:

SemiconductordevicesMechanicalandclimatetestmethodsPart26

()—()

ElectrostaticdischareESDsensitivittestinHumanbodmodelHBM

gygy

(:,)

IEC60749-262018IDT

2023-09-07发布2024-04-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBT4937.262023IEC60749-262018

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4仪器和设备………………4

4.1波形确认设备………………………4

4.2示波器………………4

4.3数字示波器的附加要求……………4

()………………………

4.4电流传感器感应电流探针4

4.5评价负载……………5

4.6人体模型模拟器……………………5

4.7HBM测试设备寄生特性……………5

5应力测试设备验证和常规确认…………6

5.1HBM测试设备评价的一般要求……………………6

5.2测试程序……………6

5.3HBM测试设备验证…………………9

5.4插座式测试设备的测试夹具板验证………………10

5.5常规波形检查要求…………………11

5.6高压放电路径检查…………………12

5.7测试设备波形记录…………………12

5.8安全…………………12

6分级程序…………………13

6.1器件分级……………13

6.2参数和功能测试……………………13

6.3器件应力测试………………………13

6.4引脚分类……………13

6.5引脚分组……………15

6.6引脚应力组合………………………15

6.7低寄生模拟器的HBM应力………………………18

6.8应力后测试…………………………18

7失效判据…………………18

8器件分级…………………19

/—/:

GBT4937.262023IEC60749-262018

()…………………

附录A资料性HBM测试方法流程20

()……………

附录资料性测试设备寄生特性

BHBM23

/………………

B.1可选择的后沿脉冲检测设备仪器23

B.2可选的预脉冲电压上升测试设备…………………25

B.3常开式继电器测试设备电容寄生效应……………26

B.4测试确定HBM模拟器是否为低寄生模拟器……………………26

()、……

附录资料性用表表或表及双引脚测试设备测试产品的示例

C232HBM28

C.1概述…………………28

()…………………

程序依照表

C.2A229

()……………

可选程序依照表

C.3B330

()……………

可选程序依照表

C.4C231

()………………

附录资料性耦合非电源引脚对示例

D33

()(/)………………

附录规范性同名非电源引脚抽样测试方法

EIO34

E.1目的和概述…………………………34

E.2引脚抽样概述和统计详情…………34

E.3IC产品选择………………………35

随机选取和测试同名/引脚…………………

E.4IO35

E.5确定是否可以用提供的Excel电子表抽样………36

同名/引脚样本的测试…………………

E.6IOHBM36

抽样同名/引脚的测试示例…………………

E.7IO36

参考文献……………………39

/—/:

GBT4937.262023IEC60749-262018

前言

/—《:

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