GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

GB/T 4937.2-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 2:Low air pressure

国家标准 中文简体 现行 页数:6页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937.2-2006
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力,而这种失效是由于气压减小时,空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。

发布历史

研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
崔波、陈海蓉
出版信息:
页数:6页 | 字数:8 千字 | 开本: 大16开

内容描述

!"#!"!#$#!"

$%#

!"#$%&’’()*

!"!!

%&’%&!’!((##)!(")#’%&)((##(

"#$%"#

"#$%&’()&&*

!"#$%&’()*+,-.

!

/01!2)3

(

""

#*+,-./01-2.30*4,-*56*-78/,-898/0-9,+82,-2*52+*27.05

!

:832($.;8,33*5513*

<

$!%&

+,-./(%&011//1+2$

4567

(##))#$)(!(##’)#()#"

!"#$%&’’(+,-./0/12345

!’’()*456789

"#$%&’(

()*+

!"#$%&’()*+,-.

!

/01!2)3

!

"#"!

!"#$%&’())**+,-.+*’$%/))**)

"

"(*+,-.,-/0

123456789:;<1=>

0+

?@AB!

0***$1

!""

233555(67(893(78

44

CD!$%&

*0*10)%%*%*+:1))**+

EFGH-

)**’0

"

!>!’

011*++0/)’+:’

!"#$%"&’

!

()*+!$%

"#"$%&!!""$

!"!%

!"#!"#$5%%&&’$%&’&$!"’%%&&%

!"

!!

"#$%!"&’()*+,-./0123#45#$$6789:";<4=>

!"#$%&’(

!!!

?@%

&&&5#$"&’()*+,-./01235#$%AB#’(

))*+,-.’$%/)

!!

&&&5#$"&’()*+,-./01235#$%C.D#’(

((*+,-.’$%/(

!!

&&&5#$"&’()*+,-./01235#$%E#FG#’(

&&*+,-.’$%/&

!!

&&&5#$"&’()*+,-./01235#$%HIJK

关联标准

相似标准推荐

更多>