GB/T 4937.15-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热

GB/T 4937.15-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 15:Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

国家标准 中文简体 现行 页数:6页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937.15-2018
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
GB/T 4937的本部分规定了耐焊接热的试验方法,以确定通孔安装的固态封装器件承受波峰焊或烙铁焊接引线时产生的热应力的能力。
为制定具有可重复性的标准试验程序,选用试验条件较易控制的浸焊试验方法。本程序为确定器件组装到电路板时对所需焊接温度的耐受能力,要求器件的电性能不产生退化且内部连接无损伤。
本试验为破坏性试验,可以用于鉴定、批接收及产品检验。
本试验与IEC 60068-2-20基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。

研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学微电子研究院、无锡必创传感科技有限公司
起草人:
高金环、彭浩、柳华光、黄杰、高兆丰、崔波、张威、陈得民、周刚
出版信息:
页数:6页 | 字数:10 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31.080.01

L40

道国

中华人民共和国国家标准

GB/T4937.15一2018/IEC60749-15:2010

半导体器件机械和气候试验方法

第15部分:通孔安装器件的耐焊接热

Semiconductordevic臼-Mechanicalandclimatictestmethods一

Part15:Resistancetosolderingtemperatureforthrough-holemounteddevices

OEC60749-15:2010,IDT)

2018-09-17发布

2019-01-01实施

国家市场监督管理总局峪舍

中国国家标准化管理委员会。ι叩

GB/T4937.15-2018/IEC60749-15:2010

』-

=

E司

GB/T4937《半导体器件机械和气候试验方法》由以下部分组成2

一一第1部分:总则;

一一第2部分:低气压z

一一第3部分:外部目检;

一一第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)I

一一第5部分g稳态温湿度偏置寿命试验;

一一第6部分:高温贮存;

一一第7部分z内部水汽含量测试和其他残余气体分析z

一一第8部分:密封z

一一第9部分:标志耐久性s

一一第10部分g机械冲击;

一一第11部分:快速温度变化双液槽法s

一一第12部分g扫频振动;

一一第13部分:盐雾s

-一第14部分:引出端强度(弓|线牢固性);

一一第15部分2通孔安装器件的耐焊接热;

一一第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)I

一一第17部分g中子辐照;

一一第18部分:电离辐射(总剂量);

一一第19部分z芯片剪切强度s

一一第20部分:塑封表面安装带件耐潮湿和焊接热综合影响s

一一第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输s

一一第21部分:可焊性z

一一第22部分:键合强度;

一一第23部分:高温工作寿命z

一一第24部分:加速耐湿无偏置强加速应力试验(HSAT);

一一第25部分:温度循环s

一一第26部分g静电放电(ESD)敏感度试验人体模型(HBM);

一一第27部分z静电放电(ESD)敏感度试验机械模型(MM);

一一第28部分g静电放电CESD)敏感度试验带电器件模型(CDM)器件级,

一一第29部分2月锁试验s

一一第30部分z非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理F

一一一第31部分z塑封器件的易燃性〈内部引起的〉;

一一第32部分:塑封辑

推荐标准

关联标准

相似标准推荐

更多>