适用范围：本文件规定了光气及光气化产品生产装置的规划布局、设计、生产运行、应急处置及使用双光气与三光气进行光气化产品生产的安全要求。 本文件适用于光气及光气化产品生产，以及使用双光气、三光气进行光气化产品生产的新建、扩建、改建和在役装置。

适用范围：本文件规定了硝酸铵生产企业在设计等方面基本要求，以及生产、储存、应急处置环节的安全要求。本文件适用于硝酸铵生产企业的生产、储存、应急处置的安全管理。 本文件不适用于港口经营、民用爆炸物品、国防科研生产。

适用范围：本文件描述了测定纳米多孔材料储氢量的静态容量气体吸附的方法。本文件适用于以物理吸附储氢的碳材料、沸石、金属有机框架材料、多孔有机聚合物等纳米多孔材料储氢量的测定。其他多孔材料储氢量的测定也可参照使用。

适用范围：本文件描述了常规分析中确认静态二次离子质谱正离子相对强度标的重复性和一致性的方法。本文件适用于安装有荷电中和电子枪的仪器，不用于校正强度随质量变化的响应函数，校正可由仪器制造厂商或其他机构进行。本文件提供数据以确认仪器使用时的相对强度一致性，提供可影响一致性的一些仪器参数的设置指南。

适用范围：本文件规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息，也提供了峰强度测量方法和导出的峰面积不确定度的信息。

适用范围：本文件描述了用于测量扫描电容显微镜（scanning capacitance microscope，SCM）或扫描扩展电阻显微镜（scanning spreading resistance microscope，SSRM）空间（横向）分辨的方法，该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。

适用范围：本文件描述了表述X射线光电子能谱仪特定性能参数的方法。

适用范围：本文件提供了采用辉光放电发射光谱法(Glow discharge optical emission spectrometry，以下简称GDOES，)进行深度剖析和体相分析的指南。本文件仅限于讨论刚性固体样品的分析，不包括粉末、气体或溶液的分析。结合现有和将来特定的标准方法，本文件旨在能够实现仪器的规范管理和测量条件的控制。尽管近年来有不同类型的辉光放电发射光源问世，但目前绝大多数使用直流和射频光源的辉光放电光谱设备仍以空心阳极的Grimm型为主。然而不同于最初Grimm型光源阴极接触样品正面的设计，一些光源的阴极接触常置于样品背面，例如Marcus型光源。本文件包含的条款同样适用于上述 2种和其他类型的光源，Grimm型光源仅作为一个实例。

适用范围：本文件规定了智慧化工园区一体化平台建设的总体目标、基本原则和功能架构，以及数据采集、企业端口和平台功能等方面的要求。 本文件适用于四川省内智慧化工园区的一体化平台建设。 注： 在不引起混淆的情况下，本文件中的“化工园区”简称为园区。

适用范围：日照市化工企业投资项目节能报告的编制

适用范围：本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

适用范围：本文件描述了检验检测机构、科研院所、企业、学校、医院等化学实验室以物联网信息共享和交换平台为基础的安全应急智慧系统建设要求。 本文件适用于化学实验室的新建或升级改造。

适用范围：本文件描述了用于最高等级几何量测量的扫描探针显微镜（SPM）扫描轴的表征和校准方法，适用于提供进一步校准的测量系统，而不适用于校准等级需求较低的一般工业应用。 本文件旨在： ——通过对长度单位溯源，提高SPM几何量测量结果的可比性； ——明确校准程序及验收条件的最低要求； ——确认被校准仪器的能力（赋予仪器“校准能力”所属的类别）； ——规定校准的范围（测量及环境条件、测量范围、时间稳定性、通用性）； ——根据ISO/IEC Guide 98-3，提供模型来计算SPM测量中简单几何量的不确定度； ——规定报告结果的要求。

适用范围：本文件给出了在数据表、分析证书、涉及制备用于表面化学分析时纳米物体处理的报告或其他出版物中应报告的信息。这些信息对于确保促进应用这些材料的研究和技术所需的分析可靠性和再现性是必需的，并获得对可能的纳米物体环境和生物影响的恰当理解。这些信息除了其他与样品的合成、加工历史及表征有关的详细资料外，并宜成为有关材料来源和其自产生以来发生的变化的数据记录（有时被确认为源信息）的一部分。 本文件包括了资料性附录。附录总结了与纳米物体相关的挑战性问题，强调了需要在材料数据记录中加强文件化和报告（见附录A）,并提供了通常从用于表面化学分析的溶液中提取颗粒的方法示例（见附录B）。相关样品数据的示例集展示于附录C。 本文件未规定确保所描述的分析测量得到恰当实施所需的仪器类型或操作程序。