适用范围：本文件旨在帮助理解分析仪器维护的原则和方法。本文件为分析仪器维护人员提供参考，同时为设定性能目标、提高可靠性策略和评价有效性方法，为其所需的组织、资源及系统提供了指导。 当关键指标确立了相应的测量手段后，才能有效地管理在线分析仪器。

适用范围：本文件适用于连续测定液体中溶解氧分压或浓度的荧光氧分析仪（以下简称“仪器”）。该仪器适用于超纯水、淡水、饮用水、海水、工业或市政污水以及工业过程中液体的测定。 本文件不适用于基于荧光法对气体中氧检测的仪器。 与被测介质接触的仪器传感器单元包含带有可渗透氧的聚合物膜的发光体或含有其他渗透氧材料（或基质）的发光体。 本文件规定了仪器的术语和定义、要求和试验方法。 本文件与GB /T 6592—2010和IEC 60770中的规定保持一致。 本文件适用于基于在线测量技术,且长期固定安装在室内或室外的仪器。 安全要求按IEC 61010-1。 过程控制系统的模拟直流电流信号的标准范围参见 IEC 60381-1。 选择影响量测试值的方法参见IEC 60654相关规定。 仪器使用说明书编制要求按 IEC 61187。 量、单位和符号相关规定参见ISO 80000-1：2022。

适用范围：本文件界定了加压流体萃取仪性能测定的术语和定义，描述了测定方法，包括试剂和材料、仪器和设备及性能指标的测定步骤。 本文件适用于加压流体萃取仪温度性能、压力性能、萃取溶剂输送通道间偏差、萃取结果一致性及交叉污染的测定。

适用范围：本文件描述了液相色谱与原子荧光光谱联用仪性能测试的方法。本文件适用于液相色谱与原子荧光光谱联用仪性能的测试。

适用范围：本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。 本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。 注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。 注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。 注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

适用范围：本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。 本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。 本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。

适用范围：本文件确立了化学蒸气发生原子荧光光谱分析方法进行元素定量分析的通用规则。本文件适用于采用化学蒸气发生原子荧光光谱仪以液体进样方式对样品中易形成氢化物、气态组分或冷蒸气等元素的含量进行定量分析。本文件不适用于固体直接进样分析。

适用范围：本文件确立了采用高效液相色谱四极杆电感耦合等离子体质谱联用技术进行物质定性和定量分析的通用规则。本文件适用于采用高效液相色谱四极杆电感耦合等离子体质谱联用技术的定性和定量分析。

适用范围：本文件确立了使用直接进样测汞法进行定量分析的通用规则。本文件适用于可直接进样的固体和液体试样中汞的定量分析。

适用范围：本文件描述了水分活度仪的性能测定方法。本文件适用于带温度控制功能的各种原理水分活度仪性能指标的测定。不带温度控制功能的水分活度仪性能指标的测定参照本文件执行。

适用范围：本文件确立了采用微波等离子体原子发射光谱仪对样品中金属和部分非金属元素进行定性和定量分析的通用规则。本文件适用于采用微波等离子体原子发射光谱仪以液体进样方式对样品中常量至痕量金属和部分非金属元素的定性、定量分析。本文件不适用于固体直接进样方式。

适用范围：本文件确立了高效液相色谱原子荧光光谱仪联用法进行元素含量及其形态分析的通用规则。本文件适用于对易形成氢化物、气态组分或冷蒸气的元素含量及其形态的定性、定量分析。

适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

适用范围：本文件描述了用安装在扫描电镜（SEM)或电子探针（EPMA)上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数(百分数)表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分，因此，本文件也包含这方面的内容。本文件描述了多种能谱法定量分析方法。 本文件适用于利用参考物质或“无标样”程序对质量分数高于1％的、原子序数Z>10的元素进行定量分析。 本文件也给出了对原子序数小于11的轻元素分析方法的信息。 注： 当没有重叠峰，并且相应的特征X射线被强烈地激发时，能谱仪也可以测量质量分数在0.1％水平的元素。本文件主要应用于表面平整试样的定量分析，基本方法也适用于表面不平整试样的分析，但会引入附加的不确定度分量。 目前没有公认的轻元素的准确能谱法（EDS)定量分析方法，以下是几种常用于轻元素分析的 EDS方法。 a) 测量峰面积并对比峰强度。如附录 A 中所述的原因，这种方法对轻元素分析结果的不确定度比重元素大。 b) 当已知试样中的轻元素以化学计量的方式与重元素（Z>10)结合时，该轻元素的浓度可以通过与其他元素的相关浓度比进行测定。这种方法通常用于硅酸盐矿物试样中氧的测定。 c) 通过差值法计算浓度，即用100％ 减去能够分析元素的总百分数即为轻元素的百分数。这种方法只有在很好的束流稳定性和单独测量至少一个参考样品的条件下才能够应用，并且还需要精确测定试样中的其他元素。 附录A总结了重元素存在时轻元素定量分析中的问题。如果仪器上安装了能谱仪和波谱仪（WDS)，可以用WDS来克服EDS分析中的低能量谱峰重叠问题。然而，许多其他问题对于这两种技术来说都是共同的。

适用范围：本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。

适用范围：本文件规定了实时荧光定量PCR仪的要求、评价方法和评价报告。本文件适用于实时荧光定量PCR仪的性能评价，包括医用临床诊断用荧光定量PCR仪和一般分析用荧光定量PCR仪。其他基于聚合酶链式反应原理定量或定性分析靶核酸片段的装置参考本文件执行。

适用范围：本文件规定了干式化学分析仪的术语和定义、要求、评价方法和评价报告。本文件适用于食品检测用干式化学分析仪的性能评价。本文件不适用于荧光免疫检测原理的干式化学分析仪。

适用范围：本文件界定了与快速检测相关的术语与定义。本文件适用于快速检测方法、快速检测产品等快速检测相关领域。