国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：DB51/T 3201-2024 Energy-saving technology specifications for lithium-ion battery electrode material production适用范围：本文件规定了锂离子电池正、负极材料一般生产流程中的节能设计、设备设施节能、电极材料生产能耗、节能技术评价方式等技术要求。 本文件适用于磷酸铁锂、镍钴锰酸锂、镍钴铝酸锂、钴酸锂、锰酸锂等锂离子电池用主流正极材料以及天然石墨、人造石墨等主流锂离子电池负极材料的生产节能管理、节能诊断、节能监测等。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-DB51)四川省地方标准 | 发布时间： 2024-10-08 | 实施时间： 2024-11-08收藏 -
即将实施
译：GB/T 44567-2024 Optics crystal—Ultraviolet grade calcium fluride crystal适用范围：本文件规定了紫外级氟化钙晶体的技术要求、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件，描述了相应的试验方法。本文件适用于紫外级氟化钙晶体的生产与检验。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-09-29 | 实施时间： 2025-04-01收藏
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即将实施
译：GB/T 44390-2024 Print display—Measuring method of film uniformity适用范围：本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法，主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。 本文件适用于使用探针式表面轮廓仪（以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-08-23 | 实施时间： 2025-03-01收藏
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现行
译：DB13/T 5983-2024 Cleaning treatment and recycling of cleaning agents in the production of lithium-ion battery electrolytes【国际标准分类号(ICS)】 ：29.220电池和蓄电池 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间： 2024-06-24 | 实施时间： 2024-07-24收藏
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现行
译：GB/T 44004-2024 Nanotechnologies—Test methods for the characterization of organic transistors and materials适用范围：本文件描述了一种表征有机晶体管的方法，包括测量技术、数据报告方法和表征过程的测试条件。 本文件适用于有机晶体管的电学特性测量。【国际标准分类号(ICS)】 ：07.030物理学、化学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-04-25 | 实施时间： 2024-11-01收藏
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现行
译：GB/T 43965-2024 Electronic grade ethyl orthosilicate适用范围：本文件规定了半导体行业用电子级正硅酸乙酯的技术要求、检验规则、型式试验、标志、包装、运输及贮存的要求,描述了试验方法、分析方法与测定结果评价。本文件适用于沉积二氧化硅的电子级正硅酸乙酯。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-04-25 | 实施时间： 2024-11-01收藏
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现行
译：SJ/T 11802-2024【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2024-04-10 | 实施时间： 2024-07-01收藏
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现行
译：SJ/T 11801-2024 Backside silver paste for crystalline silicon photovoltaic cell【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2024-04-10 | 实施时间： 2024-07-01收藏
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现行
译：GB/T 43771-2024 Electronic gas—Carbon monoxide适用范围：本文件规定了一氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。本文件适用于工业级一氧化碳经纯化制备的电子用一氧化碳。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43788-2024 Determination of silver content in silver paste for solar cells—Thiocyanate standard solution titration method适用范围：本文件描述了用硫氰酸盐标准溶液滴定法测定太阳能电池用银浆中银含量的方法。本文件适用于太阳能电池用银浆，包括符合YS/T 612的正面银浆和背面银浆，测定范围为银含量(质量分数)30%~95%。其他导电银浆(例如微电子技术用贵金属浆料)和制作银浆的原料银粉等材料参照使用。注： 参照使用本文件方法测定银粉的银含量(质量分数)时，测定范围上限为99%。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43793.2-2024 Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 2:Optical properties适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶光学性能中色度、辉度和对比度三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43774-2024 Test for stress of flat panel display substrate glass—Point scan method适用范围：本文件给出了点扫描法测定平板显示器基板玻璃应力的试验原理，描述了点扫描法的试验装置、试验条件、试样要求、试验步骤、结果表示、试验报告。本文件适用于厚度为0.3 mm~1.1 mm、规格为11代及以下的平板显示器基板玻璃应力测试，其他玻璃材料参考使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43773-2024 Electronic gas—Carbonyl sulfide适用范围：本文件规定了羰基硫的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于一氧化碳与硫为原料合成制备的电子用羰基硫。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43772-2024 Electronic gas—Carbon dioxide适用范围：本文件规定了二氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于由高纯二氧化碳经纯化制备的电子用二氧化碳。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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译：GB/T 43793.1-2024 Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 1:Physical and chemical properties适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶理化性能中固含量、黏度和后烘残膜率三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43793.3-2024 Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 3:Reliability适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶可靠性中耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能三项指标的测试方法。注： 平板显示用彩色光刻胶的可靠性指标主要包括耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43798-2024 Test method of positive photoresist for manufacturing of flat panel display array适用范围：本文件描述了平板显示阵列用正性光阻材料的测试方法。 本文件适用于液晶显示器件、有机发光显示器件等显示阵列制造用正性光阻材料的性能测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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现行
译：GB/T 43724-2024 Test method for liquid crystal monomers适用范围：本文件描述了单体液晶纯度、最大杂质、易挥发分、电阻率、水分含量和金属离子浓度的测试方法。本文件适用于单体液晶的生产研发、检验检测和应用验证等。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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译：GB/T 43493.2-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2:Test method for defects using optical inspection适用范围：本文件提供了在商用碳化硅（SiC）同质外延片产品上缺陷光学检测的定义和方法。主要是通过给出这些缺陷的光学图像示例，为SiC同质外延片上缺陷的光学检测提供检测和分类的依据。 本文件主要论述缺陷的无损表征方法，因此有损表征例如湿法腐蚀等不包含在本文件范围内。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2023-12-28 | 实施时间： 2024-07-01收藏
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译：GB/T 43493.1-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1:Classification of defects适用范围：本文件给出了4H-SiC(碳化硅)同质外延片中的缺陷分类。缺陷是按晶体学结构进行分类，并通过明场光学显微术（OM)、光致发光（PL)和X射线形貌(XRT)图像等无损检测方法进行识别。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2023-12-28 | 实施时间： 2024-07-01收藏
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