GB/T 44390-2024 打印显示 薄膜均匀性测试方法

ICS31.030

CCSL90

中华人民共和国国家标准

/—

GBT443902024

打印显示薄膜均匀性测试方法

—

PrintdislaMeasurinmethodoffilmuniformit

pygy

2024-08-23发布2025-03-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT443902024

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

()………………………

4台阶仪法仲裁法2

4.1测试原理……………2

4.2测试条件……………2

4.3测试步骤……………4

4.4结果处理……………6

5白光干涉仪法……………7

5.1测试原理……………7

5.2测试条件……………7

5.3测试步骤……………9

5.4结果处理……………10

6测试报告…………………11

Ⅰ

/—

GBT443902024

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

。。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

本文件由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(/)提出并归口。

SACTC203

:、()、

本文件起草单位京东方科技集团股份有限公司奥来德上海光电材料科技有限公司北京鼎材

、、、、

科技有限公司中国电子技术标准化研究院合肥京东方卓印科技有限公司合肥鼎材科技有限公司

、、、

TCL华星光电技术有限公司江阴润玛电子材料股份有限公司广东东溢新材料科技有限公司广东聚

、、、

华印刷显示技术有限公司深圳御光新材料有限公司衢州英特高分子材料有限公司绍兴旭源新材料

科技有限公司。

:、、、、、、、、、、、

本文件主要起草人张志刚杨京龙李新国徐晓光马晓宇代青毕岩孙力施槐庭黄瑜曹可慰

、、、、、、、、、、、、、、

吴怡然赵俊莎汪康王铁包金豹乔娟高文正戈烨铭何珂周辉陈建平付东余磊黄卫东

、、。

朱龙山袁鹏王霞

Ⅲ

/—

GBT443902024

打印显示薄膜均匀性测试方法

1范围

,、、

本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法主要包括子像素均匀性相邻子像素均匀性短程

均匀性测试方法。

()5

本文件适用于使用探针式表面轮廓仪以下称台阶仪和白光干涉仪对厚度范围为5nm~10nm

的打印显示薄膜均匀性的测试。

2规范性引用文件

。,

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

,;,()

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

本文件。

/:

有机发光二极管显示器件第部分术语与文字符号

GBT20871.121-2

3术语和定义

/界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

GBT20871.12

3.1

像素ixel

p

,。

在矩阵显示器中能完成必需显示功能的最小显示单元

:,、、(),。

注例如在基于红绿蓝RGB垂直条的彩色显示中三个相邻RGB点组成一个像素

[:/—,]

来源GBT20871.1220243.5.45

3.2

子像素subixel

p

组成一个像素的各个点。

:,,。

注例如在基于RGB垂直条的彩色显示中每个RGB点是一个子像素

[:/—,]

来源GBT20871.1220243.5.58

3.3

子像素均匀性subixeluniformit

py

一个子像素内打印薄膜的厚度均匀程度。

:,、。

注用于表征子像素的成膜均匀性与打印墨水子像素界定层的材料和结构或干燥工艺等相关

3.4

相邻子像素均匀性adacentsubixeluniformit

jpy

相邻子像素之间打印薄膜的厚度均匀程度。

:,。

注用于表征相邻同颜色子像素的成膜均匀性与使用的喷嘴相关

3.5

短程均匀性shortdistanceuniformit

y

一定范围内多个同颜色子像素的打印薄膜的厚度均匀程度。

1