• GB/T 44567-2024 光学晶体 紫外级氟化钙晶体 即将实施
    译:GB/T 44567-2024 Optics crystal—Ultraviolet grade calcium fluride crystal
    适用范围:本文件规定了紫外级氟化钙晶体的技术要求、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件,描述了相应的试验方法。本文件适用于紫外级氟化钙晶体的生产与检验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-09-29 | 实施时间: 2025-04-01
  • GB/T 44390-2024 打印显示 薄膜均匀性测试方法 即将实施
    译:GB/T 44390-2024 Print display—Measuring method of film uniformity
    适用范围:本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法,主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。 本文件适用于使用探针式表面轮廓仪(以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-08-23 | 实施时间: 2025-03-01
  • GB/T 44004-2024 纳米技术 有机晶体管和材料表征试验方法 现行
    译:GB/T 44004-2024 Nanotechnologies—Test methods for the characterization of organic transistors and materials
    适用范围:本文件描述了一种表征有机晶体管的方法,包括测量技术、数据报告方法和表征过程的测试条件。 本文件适用于有机晶体管的电学特性测量。
    【国际标准分类号(ICS)】 :07.030物理学、化学 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-04-25 | 实施时间: 2024-11-01
  • GB/T 43965-2024 电子级正硅酸乙酯 现行
    译:GB/T 43965-2024 Electronic grade ethyl orthosilicate
    适用范围:本文件规定了半导体行业用电子级正硅酸乙酯的技术要求、检验规则、型式试验、标志、包装、运输及贮存的要求,描述了试验方法、分析方法与测定结果评价。本文件适用于沉积二氧化硅的电子级正硅酸乙酯。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-04-25 | 实施时间: 2024-11-01
  • GB/T 43771-2024 电子气体 一氧化碳 现行
    译:GB/T 43771-2024 Electronic gas—Carbon monoxide
    适用范围:本文件规定了一氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。本文件适用于工业级一氧化碳经纯化制备的电子用一氧化碳。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43788-2024 太阳能电池用银浆银含量的测定 硫氰酸盐标准溶液滴定法 现行
    译:GB/T 43788-2024 Determination of silver content in silver paste for solar cells—Thiocyanate standard solution titration method
    适用范围:本文件描述了用硫氰酸盐标准溶液滴定法测定太阳能电池用银浆中银含量的方法。本文件适用于太阳能电池用银浆,包括符合YS/T 612的正面银浆和背面银浆,测定范围为银含量(质量分数)30%~95%。其他导电银浆(例如微电子技术用贵金属浆料)和制作银浆的原料银粉等材料参照使用。注: 参照使用本文件方法测定银粉的银含量(质量分数)时,测定范围上限为99%。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43793.2-2024 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第2部分:光学性能 现行
    译:GB/T 43793.2-2024 Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 2:Optical properties
    适用范围:本文件描述了平板显示用彩色光刻胶光学性能中色度、辉度和对比度三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43774-2024 平板显示器基板玻璃应力测试 点扫描法 现行
    译:GB/T 43774-2024 Test for stress of flat panel display substrate glass—Point scan method
    适用范围:本文件给出了点扫描法测定平板显示器基板玻璃应力的试验原理,描述了点扫描法的试验装置、试验条件、试样要求、试验步骤、结果表示、试验报告。本文件适用于厚度为0.3 mm~1.1 mm、规格为11代及以下的平板显示器基板玻璃应力测试,其他玻璃材料参考使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43773-2024 电子气体 羰基硫 现行
    译:GB/T 43773-2024 Electronic gas—Carbonyl sulfide
    适用范围:本文件规定了羰基硫的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于一氧化碳与硫为原料合成制备的电子用羰基硫。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43772-2024 电子气体 二氧化碳 现行
    译:GB/T 43772-2024 Electronic gas—Carbon dioxide
    适用范围:本文件规定了二氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于由高纯二氧化碳经纯化制备的电子用二氧化碳。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43793.1-2024 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第1部分:理化性能 现行
    译:GB/T 43793.1-2024 Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 1:Physical and chemical properties
    适用范围:本文件描述了平板显示用彩色光刻胶理化性能中固含量、黏度和后烘残膜率三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43793.3-2024 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第3部分:可靠性 现行
    译:GB/T 43793.3-2024 Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 3:Reliability
    适用范围:本文件描述了平板显示用彩色光刻胶可靠性中耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能三项指标的测试方法。注: 平板显示用彩色光刻胶的可靠性指标主要包括耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43798-2024 平板显示阵列用正性光阻材料测试方法 现行
    译:GB/T 43798-2024 Test method of positive photoresist for manufacturing of flat panel display array
    适用范围:本文件描述了平板显示阵列用正性光阻材料的测试方法。 本文件适用于液晶显示器件、有机发光显示器件等显示阵列制造用正性光阻材料的性能测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43724-2024 单体液晶测试方法 现行
    译:GB/T 43724-2024 Test method for liquid crystal monomers
    适用范围:本文件描述了单体液晶纯度、最大杂质、易挥发分、电阻率、水分含量和金属离子浓度的测试方法。本文件适用于单体液晶的生产研发、检验检测和应用验证等。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-10-01
  • GB/T 43493.2-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 现行
    译:GB/T 43493.2-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2:Test method for defects using optical inspection
    适用范围:本文件提供了在商用碳化硅(SiC)同质外延片产品上缺陷光学检测的定义和方法。主要是通过给出这些缺陷的光学图像示例,为SiC同质外延片上缺陷的光学检测提供检测和分类的依据。 本文件主要论述缺陷的无损表征方法,因此有损表征例如湿法腐蚀等不包含在本文件范围内。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43493.1-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 现行
    译:GB/T 43493.1-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1:Classification of defects
    适用范围:本文件给出了4H-SiC(碳化硅)同质外延片中的缺陷分类。缺陷是按晶体学结构进行分类,并通过明场光学显微术(OM)、光致发光(PL)和X射线形貌(XRT)图像等无损检测方法进行识别。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43493.3-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法 现行
    译:GB/T 43493.3-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 3:Test method for defects using photoluminescence
    适用范围:本文件提供了商用碳化硅(4H-SiC)同质外延片生长缺陷光致发光检测的定义和方法。主要是通过光致发光图像示例和发射光谱示例,为SiC同质外延片上缺陷的光致发光检测提供检测和分类的依据。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43059-2023 印制板及印制板组装件的平整度控制要求 现行
    译:GB/T 43059-2023 Requirements of flatness control for printed boards and printed board assemblies
    适用范围:本文件规定了印制板与印制板组装件平整度控制的要求。本文件适用于刚性印制板与刚性印制板组装件(组装件)设计、制造与使用中平整度的控制。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 :L94电子设备机械结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43021-2023 电子组装件焊接的返工、改装和返修工艺要求 现行
    译:GB/T 43021-2023 Workmanship requirements for rework,modification and repair of soldered electronic assemblies
    适用范围:本文件规定了适用于电子组装件焊接的返工、改装和返修的内容和工艺要求。 本文件适用于将元器件与印制板和最终产品相关部件连接的电子组装件焊接制造过程中的返工、改装和返修,也适用于混合安装技术产品组装中的相关作业活动。 本文件也包括与返工相关的设计内容的指南。 注:在不引起混淆的情况下,本文件中的“返工操作”适用于返工、改装和返修。仅适用于返工的操作会以“返工操作(仅适用返工)”表示。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.190电子元器件组件 【中国标准分类号(CCS)】 :L94电子设备机械结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-02-01
  • GB/T 4184-2021 钨铼合金丝 现行
    译:GB/T 4184-2021 Tungsten-rhenium alloy wires
    适用范围:本文件规定了钨铼合金丝的牌号、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。本文件适用于制作电光源灯丝、真空电子器件热丝和栅极及支撑用的钨铼合金丝。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2021-12-31 | 实施时间: 2022-07-01