适用范围：本文件描述了平板显示器基板玻璃的外观与几何尺寸的测试方法。 本文件适用于平板显示器用基板玻璃。

适用范围：本文件界定了光伏组件封装用共挤胶膜(以下简称“共挤胶膜”)的术语和定义，规定了要求、检验规则、包装、标志、运输和贮存，描述了相应的试验方法。 本文件适用于晶体硅光伏组件封装用共挤胶膜，薄膜组件封装用胶膜参照使用。

适用范围：本文件描述了以触针式表面粗糙度测量仪测试平板显示器基板玻璃表面粗糙度和波纹度的方法。 本文件适用于平板显示器用基板玻璃。

适用范围：本文件界定了平板显示器基板玻璃的术语和定义，规定了要求、检验规则、标志、合格证、产品说明书、包装、运输和贮存，描述了相应的试验方法。本文件适用于平板显示器基板玻璃的设计、生产、研发、测试和使用。

适用范围：本文件规定了电子封装用环氧粉末包封料(以下简称“包封料”)的产品分类、要求、检验规则和包装、标志、贮存、运输要求，描述了相应试验方法。 本文件适用于陶瓷电容器、压敏电阻器、薄膜电容器、电阻网络、热敏电阻器等电子元器件流化床等包封用环氧粉末包封料。

适用范围：本文件描述了平板显示器用基板玻璃退火点、应变点、软化点、平均线热膨胀系数、导热系数和再热线收缩率的测量方法。 本文件适用于所有类型的平板显示器用基板玻璃热学性能的测试。

适用范围：本文件描述了平板显示器基板玻璃的透过率、折射率、体积电阻率、介电常数、介质损耗因数的测试方法。 本文件适用于平板显示器用基板玻璃的测试。

适用范围：本文件描述了有机发光材料热稳定性、熔点、玻璃化转变温度、高温老化等热学性能测试方法。 本文件适用于各类有机发光显示用有机发光材料的研发生产、应用验证、检验检测等。

适用范围：本文件描述了平板显示器基板玻璃密度、应力、杨氏模量、剪切模量、泊松比和维氏硬度的测试方法。 本文件适用于平板显示器基板玻璃的设计、制造和测试。

适用范围：本文件描述了平板显示器偏光片尺寸、厚度、翘曲度、剥离力、直角度、吸收轴、铅笔硬度、撕膜静电、水接触角的测试方法。 本文件适用于平板显示器用偏光片的设计、生产及测试。

适用范围：本文件描述了印制板用铜箔外观、尺寸、物理性能、工艺性能及其他性能的试验方法。 本文件适用于刚性或挠性印制板用铜箔的测试。

适用范围：本文件界定了微电子学微光刻技术有关的微电子光刻技术，先进光刻技术，微光刻图形化和图形数据处理技术，微光刻感光材料、铬板与基板材料，光掩模技术，光刻工艺（曝光、刻蚀与微纳米加工）技术，电子束掩模制造与直写技术，光刻及掩模质量参数测量和评定，掩模制造设备和微光刻设备等术语和定义。 本文件适用于微电子学微光刻技术领域的教学、科研、生产、应用、贸易和技术交流。

适用范围：本文件规定了紫外级氟化钙晶体的技术要求、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件，描述了相应的试验方法。本文件适用于紫外级氟化钙晶体的生产与检验。

适用范围：本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法，主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。 本文件适用于使用探针式表面轮廓仪（以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。

适用范围：本文件描述了一种表征有机晶体管的方法，包括测量技术、数据报告方法和表征过程的测试条件。 本文件适用于有机晶体管的电学特性测量。

适用范围：本文件规定了半导体行业用电子级正硅酸乙酯的技术要求、检验规则、型式试验、标志、包装、运输及贮存的要求,描述了试验方法、分析方法与测定结果评价。本文件适用于沉积二氧化硅的电子级正硅酸乙酯。

适用范围：本文件规定了一氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。本文件适用于工业级一氧化碳经纯化制备的电子用一氧化碳。

适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶光学性能中色度、辉度和对比度三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

适用范围：本文件描述了用硫氰酸盐标准溶液滴定法测定太阳能电池用银浆中银含量的方法。本文件适用于太阳能电池用银浆，包括符合YS/T 612的正面银浆和背面银浆，测定范围为银含量(质量分数)30%~95%。其他导电银浆(例如微电子技术用贵金属浆料)和制作银浆的原料银粉等材料参照使用。注： 参照使用本文件方法测定银粉的银含量(质量分数)时，测定范围上限为99%。

适用范围：本文件规定了羰基硫的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于一氧化碳与硫为原料合成制备的电子用羰基硫。