适用范围：本文件规定了在0.78 μm～25 μm红外光谱范围内使用的光学材料的命名、特性以及表征该类材料的性能参数，描述了这些性能参数相应的测试方法。 本文件适用于无源光学元件所用红外材料的表征与测试。也能用于其他光谱波段（如微波、可见光或紫外波段）的表征与测试。

适用范围：本文件界定了光学薄膜相关术语和定义。术语分为3类：基本术语和定义、功能性薄膜的术语和定义、常见的薄膜缺陷术语和定义。 本文件适用于在光学元器件及基底表面镀制的光学薄膜。 本文件不适用于眼科光学（眼镜）方面的光学薄膜。

适用范围：本文件描述了工作在0.1 nm～121 nm波段的软X射线-极紫外空间成像仪器的实验室检测与定标试验项目及试验方法，规定了试验环境和试验设备的要求。 本文件适用于软X射线-极紫外光谱范围内的空间成像仪器的实验室检测与定标。

适用范围：本文件规定了透射光照明的明场显微镜在像面或中间像面测量颜色特性的测量程序。 本文件还规定了如何向用户提供相关信息。

适用范围：本文件规定了显微镜盖玻片的材料质量、成品标准和包装方式的要求和试验方法。 本文件适用于在可见光谱范围（400 nm～760 nm）中使用的显微镜盖玻片的设计、制造和应用。

适用范围：本文件界定了望远镜通用领域、双筒望远镜、单筒望远镜、观测镜和瞄准望远镜的术语和定义。 本文件适用于望远镜标准制定，编制技术文件、教材和书刊，以及文献翻译、技术交流和贸易等。

适用范围：本文件规定了当明场显微镜的像面或中间像面适合使用电子成像设备检测时的图像亮度和均匀性的测量程序。 本文件定义了如何测量图像的亮度和均匀度，以及向用户提供的相关信息。 注：本文件仅限定用电子成像设备检测显微镜的照明特性。如果通过目镜进行目视检测，则需要另外的测量程序，因此在测量程序的描述中需予以明确。尽管如此，通过目镜对中间像面进行视觉观察，将为图像亮度提供有效的评估。

适用范围：本文件规定了在可见光谱范围（400 nm～760 nm）内使用的显微镜盖玻片的尺寸偏差、厚度和光学特性的要求。 本文件适用于显微镜盖玻片的设计、制造和应用。

适用范围：本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。 本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。 注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。 注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。 注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

适用范围：本文件规定了遥感器定标用积分球光源测试的一般要求、测试项目和方法、测试检查以及测试报告。本文件适用于通过内置或外部引入，输出波长范围在紫外至短波红外波段（350 nm～2 500 nm)，出光口直径大于或等于100 mm，用于遥感器辐射定标的、具有连续光谱的积分球［光源］测试，其他积分球［光源］测试参照执行。

适用范围：本文件规定了光学和光子学领域中光辐射的光谱波段划分。 本文件不适用于照明和电信应用，也不适用于职业场所的光辐射危害防护。

适用范围：本文件描述了显微术用浸液的特性，按其应用场合对浸液进行了分类，规定了每种类型浸液的要求，描述了相应的试验方法。 本文件规定了浸液的标识方法、容器标签上包含的信息和技术数据表提供的信息。

适用范围：本文件规定了色差校正的类别和对色差校正的最低要求。 本文件适用于制造商规定的物镜和镜筒透镜组合的目视观察。 本文件对色差校正的要求仅涉及轴向色差。

适用范围：本文件规定了光学设计与显微镜用户对物镜光谱透射率的描述方式。 注： 本文件不适用于体视显微镜的专用物镜。

适用范围：本文件规定了在显微镜物镜上标志“平场”的用法，定义了一个平面物体表面主像清晰区域的直径。本文件适用于使用制造商规定的物镜、镜筒透镜和目镜组合的目视观察。本文件的物镜标志与ISO 8578一致。

适用范围：本文件规定了使用电子探针定量分析无水碳酸盐矿物的仪器设备及材料、参考物质、试样制备、分析步骤、元素含量的计算、结果处理和分析报告。本文件适用于无水碳酸盐矿物的X射线波谱仪定量分析。

适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

适用范围：本文件规定了可见光波段范围内工作的月球与行星原位探测相机的功能指标、性能指标、环境适应性等技术要求，描述了对应的测试及试验方法。本文件适用于可见光波段范围内工作的月球与行星原位探测相机的设计、测试及试验研制过程。紫外和红外波段下的月球与行星原位探测相机研制参照使用。

适用范围：本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。