GB/T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

ICS71.040.99

CCSN33

中华人民共和国国家标准

/—

GBT438832024

微束分析分析电子显微术金属中纳米

颗粒数密度的测定方法

——

MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicroscoMethodfor

yypy

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gyp

2024-04-25发布2024-11-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT438832024

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4符号………………………2

5原理………………………3

6试样………………………5

7仪器设备…………………5

/的准备……………………

8TEMSTEM6

9试验方法…………………6

10试样厚度的测定………………………12

11数密度的计算…………………………12

12不确定度评定…………………………13

13检测报告………………15

()…………………

附录资料性用图像分析软件统计颗粒数的方法

A16

()…………………

附录资料性铝合金中某析出相颗粒数密度的测定示例

BTEM17

参考文献……………………24

Ⅰ

/—

GBT438832024

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

。。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

本文件由全国微束分析标准化技术委员会(/)提出并归口。

SACTC38

:、、()。

本文件起草单位中国航发北京航空材料研究院北京科技大学牛津仪器科技上海有限公司

:、、。

本文件主要起草人娄艳芝柳得橹徐宁安

Ⅲ

/—

GBT438832024

引言

。

金属材料中弥散分布的纳米尺度第二相颗粒对材料的显微组织与力学性能有重要影响第二相颗

,

粒的数密度是许多材料在进行性能评估及生产工艺改进时都不可或缺的重要参数金属材料中的纳米

。,,

级析出相颗粒尤为重要受分辨率的限制很多分析手段难以对其进行观测和统计而透射电子显微

/(/)。

术扫描透射电子显微术TEMSTEM等高分辨率的现代技术是进行纳米颗粒分析的通用技术规

范材料中纳米颗粒数密度的测定方法对于金属材料的研发以及生产工艺的制定与改进具有极其重要的

意义。

Ⅳ

/—

GBT438832024

微束分析分析电子显微术金属中纳米

颗粒数密度的测定方法

1范围

/(/)

本文件描述了应用透射电子显微镜扫描透射电子显微镜TEMSTEM技术测定金属材料中纳

米级第二相颗粒数密度的方法。

、。

本文件适用于测定金属材料中弥散分布粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度

/,

被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约13以下且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互

。,。

相重叠或很少重叠颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行其他晶体材料可参照执行

本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。

:/。

注可测定的最小颗粒尺寸取决于所用设备的分辨率和采用的实验技术

1TEMSTEM

:。

注待测定的第二相颗粒尺寸通常在范围

25nm~40nm

:,。

注3TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况将增大颗粒计数的不确定度

2规范性引用文件

。,

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

,;,()

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

本文件。

/微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法

GBT18907

/微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GBT20724

/测量不确定度评定和表示

GBT27418

/微束分析分析电子显微学术语

GBT40300

3术语和定义

/界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

GBT40300

3.1

测量框measurementframe

,。

试样图像上的一个区域在此区域中对颗粒进行计数和图像分析

:。

注一系列的测量框构成总的测试区域

[:/—,,]

来源GBT21649.120083.1.2有修改

3.2

二值图像binarimae

yg

图像上每一像元只有两种可能的数值或灰度等级状态的图像。

3.3

环形暗场探测器annulardark-fielddetector

ADF探测器ADFdetector

,。

在STEM中安置在直射束周围的圆环状探测器用以收集散射电子并将其强度叠加形成暗场像

:,。

注由卢瑟福散射引起的衬度是通过高散射角获得的而暗场像是通过低散射角获得的

ZADF

1