GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法

GB/T 43087-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

国家标准 中文简体 现行 页数:42页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 43087-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS)所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法(MSS)获得的界面位置。

研制信息

起草单位:
北京科技大学
起草人:
权茂华、柳得橹
出版信息:
页数:42页 | 字数:73 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS71.040.50

CCSN33

中华人民共和国国家标准

/—

GBT430872023

微束分析分析电子显微术

层状材料截面像中界面位置的确定方法

——

MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicroscoMethodforthe

yypy

determinationofinterfaceositioninthecross-sectional

p

imaeofthelaeredmaterials

gy

(:,)

ISO202632017MOD

2023-09-07发布2024-04-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT430872023

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

、…………………………

3术语定义和符号1

3.1术语和定义…………………………1

3.2符号…………………3

4截面试样的制备…………………………3

4.1通则…………………3

4.2截面试样的要求……………………4

5界面位置的确定…………………………4

5.1概述…………………4

5.2准备工作……………4

6界面位置测定步骤………………………6

6.1概述…………………6

截面像/像的获取……………………

6.2TEMSTEM8

6.3ROI的设置…………………………9

6.4均值强度曲线的获取………………14

6.5移动平均处理………………………16

6.6差分处理……………17

6.7界面位置的确定……………………17

7不确定度…………………18

7.1处理过程中各个步骤累积的不确定度……………18

7.2图像分析中测量结果的不确定度…………………18

()/……

附录资料性三种类型实际像像的处理示例

ATEMSTEM20

A.1概述………………20

类型图像的处理示例…………

A.2120

类型图像的处理示例…………

A.32

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