GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
GB/T 43087-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
基本信息
发布历史
-
2023年09月
研制信息
- 起草单位：
- 北京科技大学
- 起草人：
- 权茂华、柳得橹
- 出版信息：
- 页数：42页 | 字数：73 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS71.040.50
CCSN33
中华人民共和国国家标准
/—
GBT430872023
微束分析分析电子显微术
层状材料截面像中界面位置的确定方法
——
MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicroscoMethodforthe
yypy
determinationofinterfaceositioninthecross-sectional
p
imaeofthelaeredmaterials
gy
(:,)
ISO202632017MOD
2023-09-07发布2024-04-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT430872023
目次
前言…………………………Ⅲ
引言…………………………Ⅳ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
、…………………………
3术语定义和符号1
3.1术语和定义…………………………1
3.2符号…………………3
4截面试样的制备…………………………3
4.1通则…………………3
4.2截面试样的要求……………………4
5界面位置的确定…………………………4
5.1概述…………………4
5.2准备工作……………4
6界面位置测定步骤………………………6
6.1概述…………………6
截面像/像的获取……………………
6.2TEMSTEM8
6.3ROI的设置…………………………9
6.4均值强度曲线的获取………………14
6.5移动平均处理………………………16
6.6差分处理……………17
6.7界面位置的确定……………………17
7不确定度…………………18
7.1处理过程中各个步骤累积的不确定度……………18
7.2图像分析中测量结果的不确定度…………………18
()/……
附录资料性三种类型实际像像的处理示例
ATEMSTEM20
A.1概述………………20
类型图像的处理示例…………
A.2120
类型图像的处理示例…………
A.32
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