适用范围：本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。 本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。 本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。

适用范围：本文件描述了测定纳米多孔材料储氢量的静态容量气体吸附的方法。本文件适用于以物理吸附储氢的碳材料、沸石、金属有机框架材料、多孔有机聚合物等纳米多孔材料储氢量的测定。其他多孔材料储氢量的测定也可参照使用。

适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

适用范围：本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原理、设备、器件制备及测量过程、计算方法、不确定度的分析与计算，以及测量报告等。 本文件适用于长度和宽度均大于100 μm的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率（

适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

适用范围：本文件描述了利用拉曼光谱法测量石墨烯缺陷浓度的方法，包括原理、仪器参数要求、样品准备、试验步骤及数据分析与处理。本文件适用于横向尺寸不小于2 μm、物性均匀、表面洁净的单层石墨烯的点缺陷浓度测量。

适用范围：本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。

适用范围：本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

适用范围：本文件规定了熔模铸造用中温模料的滴点、冻凝点、线收缩率、软化点、旋转黏度、灰分等物理性能的试验方法。 本文件适用于熔模铸造用中温模料物理性能的测试。

适用范围：本文件规定了熔模铸造用中温模料的抗弯强度、表面硬度、热变形量和热稳定性、脱水性、表面凹陷或缩陷、抗蠕变性等使用性能的试验方法。 本文件适用于熔模铸造用中温模料的使用性能测试。

适用范围：本文件描述了用氩气吸附静态容量法测定石墨烯粉体比表面积的方法。 本文件适用于测定具有Ⅱ型(分散的、无孔或大孔)和Ⅳ型(介孔，孔径2 nm~50 nm)吸附等温线的石墨烯粉体的比表面积。含有少量微孔、吸附等温线呈现出Ⅱ型和Ⅰ型相结合或Ⅳ型和Ⅰ型相结合的石墨烯粉体的比表面积测定亦适用。其他类型的碳基纳米材料，如碳纳米管、碳纤维、多孔炭等比表面积的测定参照使用。

适用范围：本文件描述了用电感耦合等离子体质谱技术测定石墨烯粉体中金属杂质含量的方法。本文件适用于石墨烯粉体中金属杂质的测定。其他碳基纳米材料，如碳纳米管、碳纤维、多孔炭等所含金属杂质的测定参照执行。

适用范围：本文件描述了用阿贝折射仪和全自动折光率仪测定液体化工产品折光率的方法。本文件适用于透明或半透明、温度范围在20 ℃～60 ℃、折光率范围在1.300 0～1.700 0的液体化工产品的测定。

适用范围：本文件规定了采用分光光度法测定生产环境空气中纳米二氧化钛粉尘浓度的方法，包括样品采集与处理、测试、数据处理、结果计算。本文件适用于使用分光光度计检测湿法采集到的纳米二氧化钛粉尘浓度。其他环境空气中纳米二氧化钛浓度的测定可参考使用本文件。

适用范围：本文件描述了用自动电位滴定仪测定防腐木材和木材防腐剂中季铵盐方法的样品制备、仪器设备、试剂与溶液配制、测定等。本文件适用于测定防腐木材和木材防腐剂中季铵盐的含量。

适用范围：本文件给出了利用紫外可见(UVVis)吸收光谱评估单分散镉硫族化物(CdTe、CdSe和CdS)胶体量子点的直径和颗粒浓度的方法。本文件适用于分析直径为3.5 nm~9 nm的CdTe、1 nm~8 nm的CdSe和1 nm~5.5 nm的CdS单分散球形量子点。

适用范围：本文件描述了多壁碳纳米管（MWCNTs）介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术（SEM）、透射电子显微术（TEM）、黏度法和光散射法等。 本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度（SBPL）表征的附加条款，给出了用于评价SBPL的测量方法，其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。 本文件借鉴高分子物理中的概念和数学表达式来定义MWCNTs的介观形状因子。

适用范围：本文件描述了用X射线荧光能谱仪分析CCA和ACQ防腐木材和木材防腐剂的术语和定义、测试原理、要求、仪器设备、样品制备和测定。 本文件适用于防腐木材和木材防腐剂中CCA和ACQ中的氧化铜、三氧化铬、五氧化二砷等有效成分的测定，以及含有以上有效成分的其他防腐木材和木材防腐剂的测定。