GB/T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
GB/T 43610-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
国家标准
中文简体
现行
页数：24页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2023-12-28
实施日期
2024-07-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。
本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。
本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。
发布历史
-
2023年12月
研制信息
- 起草单位：
- 北京科技大学
- 起草人：
- 权茂华、柳得橹
- 出版信息：
- 页数：24页 | 字数：48 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS71.040.50
CCSN33
中华人民共和国国家标准
/—
GBT436102023
微束分析分析电子显微术
线状晶体表观生长方向的透射
电子显微术测定方法
——
MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicrosco
yypy
Methodofdeterminationforaarentrowthdirectionof
ppg
wirelikecrstalsbtransmissionelectronmicrosco
yypy
(:,)
ISO192142017MOD
2023-12-28发布2024-07-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT436102023
目次
前言…………………………Ⅲ
引言…………………………Ⅳ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4试样要求…………………2
5分析步骤…………………2
5.1TEM操作条件的设置………………2
5.2数据获取……………3
5.3晶体方向的确定……………………4
6测定结果的不确定度……………………7
7测试报告…………………8
()………………
附录资料性六方晶系的米勒指数与米勒布拉维指数之间的关系
A-9
()-1………
附录资料性七个晶系的转换矩阵和
BGG10
()………
附录资料性金纳米棒长轴方向的测定实例
C12
()…………
附录资料性测试报告样本
D18
参考文献……………………20
Ⅰ
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