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现行
译：GB/T 7581-1987 Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L42半导体三极管
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1987-03-21 | 实施时间： 1987-11-01
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废止
译：GB/T 6570-1986 Measuring methods for microwave diodes
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管
【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1986-07-22 | 实施时间： 1987-07-01
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现行
译：GB/T 6256-1986 Blank detail specification for industrial heating triodes
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.30三极管
【中国标准分类号(CCS)】 ：L42半导体三极管
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1986-04-14 | 实施时间： 1987-04-01
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废止
译：GB/T 4298-1984 The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.99其他半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1984-03-28 | 实施时间： 1985-03-01
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