19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 12846-1991 脉冲闸流管总规范(可供认证用) 现行
    译:GB/T 12846-1991 General specification for pulse thyratrons
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.20晶体闸流管 【中国标准分类号(CCS)】 :L39其他电真空器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1991-04-28 | 实施时间: 1991-12-01
  • GB/T 12847-1991 氢闸流管空白详细规范(可供认证用) 现行
    译:GB/T 12847-1991 Blank detail specification for hydrogen thyratrons
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.20晶体闸流管 【中国标准分类号(CCS)】 :L39其他电真空器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1991-04-28 | 实施时间: 1991-12-01
  • GB/T 12562-1990 PIN 二极管空白详细规范 (可供认证用) 废止
    译:GB/T 12562-1990 Blank detail specification for PIN diodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L41半导体二极管
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1990-12-06 | 实施时间: 1991-10-01
  • GB/T 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法 现行
    译:GB/T 12300-1990 Test methods of safe operating area for power transistors
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.30三极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1990-01-10 | 实施时间: 1990-08-01
  • GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸 现行
    译:GB/T 7581-1987 Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L42半导体三极管
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1987-03-21 | 实施时间: 1987-11-01
  • GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法 废止
    译:GB/T 6570-1986 Measuring methods for microwave diodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L41半导体二极管
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1986-07-22 | 实施时间: 1987-07-01
  • GB/T 6256-1986 工业加热三极管空白详细规范(可供认证用) 现行
    译:GB/T 6256-1986 Blank detail specification for industrial heating triodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.30三极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L42半导体三极管
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1986-04-14 | 实施时间: 1987-04-01
  • GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 废止
    译:GB/T 4298-1984 The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1984-03-28 | 实施时间: 1985-03-01