适用范围：本文件界定了有机硅消泡剂的术语和定义，规定了有机硅消泡剂的分类、技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存，描述了相应的试验方法。本文件适用于以聚有机硅氧烷或改性聚有机硅氧烷为活性主体制成的有机硅消泡剂。本文件不适用于食品、医药工业中的有机硅消泡剂。

适用范围：本文件描述了常规分析中确认静态二次离子质谱正离子相对强度标的重复性和一致性的方法。本文件适用于安装有荷电中和电子枪的仪器，不用于校正强度随质量变化的响应函数，校正可由仪器制造厂商或其他机构进行。本文件提供数据以确认仪器使用时的相对强度一致性，提供可影响一致性的一些仪器参数的设置指南。

适用范围：本文件规定了制备具有稳定性和可比性的校准用混合气体1)的通用质量保证要求2)，确立了验证此类混合气体的组成在规定的测量不确定度范围内是否准确的程序，提供了如何在这些程序中进行不确定度评定的指导，描述了使用可溯源的标准混合气体来校准组成未知的校准用混合气体的方法，给出了校准用混合气体生产商使用的质量管理体系，还给出了这些差异3)对混合气体特性造成的影响的信息。

适用范围：本文件简要描述了ISO 6145的其他部分详述的各种动态制备方法，提供了合理选择一种或多种校准用混合气体的制备方法的基本信息，描述了将动态制备方法与国家测量标准建立联系、确保所制备的混合气体组成的计量溯源性的方法1)，描述了通过与已验证的校准用混合气体进行比较对所制备的混合气体组成进行分析的方法，规定了使用动态法制备混合气体的通用要求，给出了用于计算校准用混合气体组成及其不确定度的必要公式。 本文件适用于动态法制备用于气体分析仪的校准或核查的校准用混合气体，不适用于动态法制备的气袋装或气瓶装的混合气体的贮存。

适用范围：本文件规定了高纯氢氧化钠的外观、物化性能等技术要求，描述了相应的取样、试验方法、检验规则、标志、标签、随行文件、包装、运输和贮存。本文件适用于氯化钠水溶液电解生产的高纯氢氧化钠产品的生产、使用、质量控制。

适用范围：本文件规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息，也提供了峰强度测量方法和导出的峰面积不确定度的信息。

适用范围：本文件规定了反应染料固色率的测定方法。 本文件适用于反应染料印花固色率和浸染染色固色率的测定。

适用范围：本文件描述了测定水处理剂分散性能的方法--分散高岭土法。 本文件适用于以药剂筛选为目的的水处理剂分散性能的测定。

适用范围：本文件规定了煤基费托合成液体石蜡的产品分类、技术要求和试验方法、检验规则及标志、包装、运输及贮存和安全。本文件适用于经由煤基费托合成工艺生产的轻质液体石蜡、重质液体石蜡和全馏分液体石蜡。

适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

适用范围：本文件规定了工业用环戊烷的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于石油基或煤基的碳五原料经加氢精馏得到的环戊烷。

适用范围：本文件描述了用于测量扫描电容显微镜（scanning capacitance microscope，SCM）或扫描扩展电阻显微镜（scanning spreading resistance microscope，SSRM）空间（横向）分辨的方法，该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。

适用范围：本文件规定了免洗洗手液的技术要求和检验规则及标志、包装、运输、贮存等，描述了相应的试验方法。本文件适用于免水冲洗的具有清洁或抑菌、杀菌功能的洗手液。本文件不适用于免洗手部消毒剂。

适用范围：本文件描述了化妆品中虾青素的高效液相色谱测定方法的原理、试剂和材料、仪器设备、试验步骤、试验数据处理、回收率、精密度等内容。本文件适用于水剂类、乳液类、膏霜类和面膜等化妆品中虾青素的测定。本文件方法检出限为 0.15 mg/kg，定量限为 0.50 mg/kg。

适用范围：本文件描述了表述X射线光电子能谱仪特定性能参数的方法。

适用范围：本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原理、设备、器件制备及测量过程、计算方法、不确定度的分析与计算，以及测量报告等。 本文件适用于长度和宽度均大于100 μm的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率（

适用范围：本文件描述了牙膏对牙结石抑制率实验室测试方法的原理、试剂和材料、仪器设备、测定步骤、计算。本文件适用于以抑制晶体生长为起效机制的牙膏对牙结石抑制率的测定。

适用范围：本文件描述了用X射线光电子能谱技术(XPS)测定石墨烯粉体中氧元素含量(原子分数)和碳氧比的方法。本文件适用于石墨烯粉体、石墨烯浆料，其他碳基纳米材料的测定参照执行。

适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

适用范围：本文件提供了采用辉光放电发射光谱法(Glow discharge optical emission spectrometry，以下简称GDOES，)进行深度剖析和体相分析的指南。本文件仅限于讨论刚性固体样品的分析，不包括粉末、气体或溶液的分析。结合现有和将来特定的标准方法，本文件旨在能够实现仪器的规范管理和测量条件的控制。尽管近年来有不同类型的辉光放电发射光源问世，但目前绝大多数使用直流和射频光源的辉光放电光谱设备仍以空心阳极的Grimm型为主。然而不同于最初Grimm型光源阴极接触样品正面的设计，一些光源的阴极接触常置于样品背面，例如Marcus型光源。本文件包含的条款同样适用于上述 2种和其他类型的光源，Grimm型光源仅作为一个实例。