国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：GB/T 42208-2022 Nanotechnologies—Measurement of nanoparticle size in multiphase system—Image method of transmission electron microsopy适用范围：本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径测量。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2022-12-30 | 实施时间： 2023-07-01收藏 -
现行
译：JB/T 13872-2020 Planar phase shifting interferometer【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2020-04-16 | 实施时间： 2021-01-01收藏
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现行
译：GB/T 34831-2017 Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method适用范围：本标准规定了采用电子显微镜高角环形暗场成像技术对贵金属纳米颗粒成像的方法。本标准适用于单一贵金属纳米颗粒和复合材料中贵金属纳米颗粒的成像。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2017-11-01 | 实施时间： 2018-05-01收藏
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现行
译：GB/T 32869-2016 Nanotechnologies—Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis适用范围：本标准规定了利用SEM和EDX分析单壁碳纳米管粗产品及纯化后粉末或薄膜产品的形态、元素组成、催化剂和其他无机杂质的测试方法。 本标准适用于单壁碳纳米管的特性分析，亦可用于多壁碳纳米管（multiwall carbon nanotubes，简称MWCNTs）的特性分析。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2016-08-29 | 实施时间： 2017-03-01收藏
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现行
译：GB/T 32526-2016 General specification for the equipment of passing azimuth angle vertically适用范围：本标准规定了航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能检验方法。 本标准适用于航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的设计、生产、试验和验收。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2016-02-24 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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现行
译：GB/T 32525-2016 General specification for photoelectric tracking and measuring equipment适用范围：本标准规定了飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能试验方法。 本标准适用于飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的设计、生产、试验和验收。 注： 在本标准中不发生歧义的情况下光电跟踪测量设备简写为设备。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2016-02-24 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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现行
译：GB/T 30543-2014 Nanotechnologies—Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy适用范围：本标准规定了单壁碳纳米管的透射电子显微术表征形貌的方法，及识别单壁碳纳米管样品中其他材料元素组成的能谱法。 本标准适用于检测单壁碳纳米管的基本结构，包括形貌、缺陷、直径分布、管束大小和取向、结晶情况，以及元素组分和手性分析等。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-05-06 | 实施时间： 2014-11-01收藏
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现行
译：JB/T 11145-2011 X-ray fluorescence spectrometer【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2011-12-20 | 实施时间： 2012-04-01收藏
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现行
译：JB/T 11144-2011 X-ray diffractometer【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2011-12-20 | 实施时间： 2012-04-01收藏
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现行
译：GB/T 26533-2011 General rules for Auger electron spectroscopic analysis适用范围：本标准规定了以电子束为激发源的俄歇电子能谱（AES，Auger Electron Spectroscopy）的一般表面分析方法。 本标准适用于俄歇电子能谱仪。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2011-05-12 | 实施时间： 2011-12-01收藏
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现行
译：JB/T 9400-2010 X-ray diffractometer technical specification【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2010-02-21 | 实施时间： 2010-07-01收藏
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现行
译：GB/T 15247-2008 Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for determining the carbon content of steels using calibration curve method适用范围：本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢（其他合金元素质量分数小于2%）中碳含量的校正曲线法。本标准包含试样制备、X射线检测、校正曲线建立以及碳含量检测不确定度的评估。本标准适用于测定碳的质量分数小于1%的钢中碳含量，当含碳量高于1%时检测准确度会受到很大的影响，不适用于本标准。 本标准适用于垂直入射方式和波谱仪，不适用能谱仪。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-08-20 | 实施时间： 2009-04-01收藏
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现行
译：JC/T 1085-2008 X-ray fluorescence analyzer for cement【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JC)行业标准-建材 | 发布时间： 2008-06-16 | 实施时间： 2008-12-01收藏
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废止
译：JB/T 10573-2006 Toolmaker’s microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2006-07-27 | 实施时间： 2006-10-11收藏
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废止
译：JB/T 5482-2004 X-ray crystal orientation apparatus technical specification【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2004-06-17 | 实施时间： 2004-11-01收藏
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现行
译：GB/T 19500-2004 General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2004-04-30 | 实施时间： 2004-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 18907-2002 Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-12-05 | 实施时间： 2003-05-01收藏
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废止
译：GB/T 15245-2002 Quantitative analysis of rare earth element(REE)oxides by electron probe microanalysis(EPMA)【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18873-2002 General specification of transmission electron microscope(TEM)—X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15244-2002 Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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