GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法

GB/T 34831-2017 Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method

国家标准 中文简体 现行 页数:13页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 34831-2017
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2017-11-01
实施日期
2018-05-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
适用范围
本标准规定了采用电子显微镜高角环形暗场成像技术对贵金属纳米颗粒成像的方法。本标准适用于单一贵金属纳米颗粒和复合材料中贵金属纳米颗粒的成像。

研制信息

起草单位:
国家纳米科学中心、北京粉体技术协会
起草人:
齐笑迎、常怀秋、朱晓阳、贺蒙、高原
出版信息:
页数:13页 | 字数:20 千字 | 开本: 大16开

内容描述

;

ICS17.180.0137.020

N33

中华人民共和国国家标准

/—

GBT348312017

纳米技术贵金属纳米颗粒电子显微镜成像

高角环形暗场法

——

NanotechnoloiesElectronmicroscoimainofnoblemetalnanoarticles

gpyggp

Hihanleannulardarkfieldimainmethod

gggg

2017-11-01发布2018-05-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT348312017

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4高角环形暗场成像原理…………………1

5仪器和设备………………3

6试剂………………………3

7样品制备…………………3

8实验步骤…………………3

9实验报告…………………3

()…………………

附录资料性附录贵金属纳米颗粒高角环形暗场成像方法实例

A5

()………………

附录资料性附录贵金属纳

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