适用范围：本标准规定了半导体纳米粉体材料的紫外可见漫反射光谱测试方法。 本标准适用于不透光半导体纳米粉体材料漫反射光谱的测试。

适用范围：本标准规定了荧光样品颜色的两种测量方法——光谱光度法、光电积分法以及测量结果的表示方法。 本标准适用于在可见区发光的反射荧光样品色的相对测量。 本标准不适用于电致发光样品、化学发光样品和磷光样品颜色的测量；也不适用于化学分析应用中荧光特性的测量。

适用范围：本标准采用辉光放电原子发射光谱法用于定量测定钢表面纳米、亚微米尺度薄膜（金属镀膜和氧化膜）中膜厚、镀层质量（单位面积）和薄膜中的元素深度分布。 本方法适用于测定3 nm~1 000 nm厚度的钢表面薄膜，适用的元素包括：铁、铬、镍、铜、钛、锰、铝、碳、磷、氧、氮和硅。