GB/T 17554.1-2025 卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分：一般特性

ICS3524015

CCSL.70.

中华人民共和国国家标准

GB/T175541—2025

.

代替GB/T175541—2006

.

卡及身份识别安全设备测试方法

第1部分一般特性

:

Cardsandsecuritydevicesforpersonalidentification—Testmethods—

Part1Generalcharacteristics

:

ISO/IEC10373-12020MOD

(:,)

2025-02-28发布2025-09-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T175541—2025

.

目次

前言

…………………………Ⅴ

引言

…………………………Ⅶ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语定义和缩略语

3、………………………1

术语和定义

3.1…………………………1

缩略语

3.2………………3

测试方法的默认项

4………………………3

测试环境

4.1……………3

预处理

4.2………………3

测试方法选择

4.3………………………3

默认容差

4.4……………3

总测量不确定度

4.5……………………3

测试方法

5…………………3

卡翘曲

5.1………………3

卡尺寸

5.2………………4

剥离强度

5.3……………5

包括卡边缘的剥离强度

5.4……………8

耐化学性

5.5……………13

在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲

5.6……………………15

粘连或并块

5.7…………………………16

弯曲韧性

5.8……………16

动态弯曲应力

5.9………………………18

动态扭曲应力

5.10……………………21

阻光度

5.11……………23

紫外线

5.12……………23

射线

5.13X-……………24

字符凸印的凸起高度

5.14……………24

抗热度

5.15……………25

表面畸变凸起区域和凹陷区域

5.16、…………………26

有毒有害物质含量

5.17………………26

用于卡的测试方法

6IC…………………26

带触点的卡电气测量约定

6.1IC……………………26

Ⅰ

GB/T175541—2025

.

带触点的卡测量装置

6.2IC…………26

带触点的卡触点尺寸和位置

6.3IC…………………28

触点机械强度

6.4………………………29

对带触点的卡的静电放电

6.5ESD———IC…………31

对和的静电应力

6.6ESS———PICCVICC…………31

带触点的卡触点表面电阻

6.7IC……………………32

带触点的卡触点表面轮廓

6.8IC……………………33

卡机械强度用于带触点的卡的三轮测试

6.9IC———:IC…………35

参考文献

……………………39

图翘曲测量装置

1…………………………4

图象限分布

2………………5

图卡的准备

3………………6

图剥离试验的样品准备

4…………………7

图安装在拉力测试仪中的样品

5…………7

图剥离强度图记录示例

6…………………8

图稳定板顶视图和侧视图

7()……………9

图导轨端视图

8()…………………………9

图卡的准备

9……………10

图剥离试验的样品准备

10………………10

图安装在拉力测试仪中的样品和稳定板

11……………11

图相邻负尖峰和正尖峰的示例

12………………………11

图剥离强度图记录示例

13………………12

图加载荷前夹具中的卡

14………………17

图加载荷期间夹具中的卡

15……………17

图移去载荷后夹具中的卡

16……………18

图动态弯曲测试设备

17…………………19

图轴的定义

18……………21

图扭曲试验机

19…………………………22

图压力周期函数

20………………………22

图测量阻光度的各区域

21………………23

图曝露于温度前夹紧装置中的卡

……………………

2225

图曝露于温度后夹紧装置中的卡

23……………………26

图卡固定器

24IC………………………27

图平整板

25………………27

图固定器上卡和平整板的位置

26IC…………………28

图带有定位模板和钢球或圆形尖端组件的默认卡固定器和平整板

27IC…………30

Ⅱ

GB/T175541—2025

.

图定位模板

28……………30

图测试电路

29ESD………………………31

图或的测试区域

30PICCVICCESD…………………32

图测试探头

31……………33

图测量探头

32……………34

图到的测量线

33C1C5…………………35

图三轮测试原理

34………………………35

图滚轮的位置和卡的初始位置

35IC…………………36

图轴轴和轴的位置

36A、BC…………37

图卡的插入位置

37IC…………………38

表短期影响试剂

1………………………13

表长期影响试剂

2………………………14

表绕轴弯曲尺寸

3A……………………20

表绕轴弯曲尺寸

4B……………………20

Ⅲ

GB/T175541—2025

.

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是的第部分已经发布了以下部分

GB/T175541。GB/T17554:

卡及身份识别安全设备测试方法第部分一般特性

———1:;

识别卡测试方法第部分带磁条的卡

———2:;

识别卡测试方法第部分带触点的集成电路卡及其相关接口设备

———3:;

识别卡测试方法第部分邻近式卡

———7:。

本文件代替识别卡测试方法第部分一般特性测试与

GB/T17554.1—2006《1:》,

相比除结构调整和编辑性改动外主要技术变化如下

GB/T17554.1—2006,,:

增加了基础标准静电放电静电应力等术语和定义见

———“”“”“”(3.1.12、3.1.13、3.1.14);

删除了可燃性光透射比透射密度正常使用等术语和定义见年版的

———“”“<>”“”“”(20063.12、

3.13、3.14、3.15);

删除了按照卡所呈现的特征选择测试见年版的表

———“”(20061);

更改了总度量的不确定描述为总测量不确定度见年版的

———“”,“”(4.5,20064.5);

删除了可燃性静磁场测试方法见年版的

———“”“”(20065.10、5.14);

增加了包括卡边缘的剥离强度表面畸变凸起区域和凹陷区域有毒有害物质含量测试

———“”“、”“”

方法见

(5.4、5.16、5.17);

对动态弯曲应力标定方法进行了技术改进增加了校准方法见年版的

———,“”(5.9.3,20065.8);

更改了阻光度光谱测量范围以满足基础标准的要求见年

———“”,GB/T14916—2022(5.11,2006

版的

5.11);

增加了用于卡的测试方法见第章

———“IC”(6)。

本文件修改采用卡及身份识别安全设备测试方法第部分一般特

ISO/IEC10373-1:2020《1:

性

》。

本文件与相比做了下述结构调整

ISO/IEC10373-1:2020:

增加紫外线和有毒有害物质含量删除中的

———5.12()5.17(),ISO/IEC10373-1:20203.1.12、

附录附录图图和图

3.1.16、6.8、A、B、21、2223;

对应中的

———3.1.12ISO/IEC10373-1:20203.1.13;

对应中的

———3.1.13ISO/IEC10373-1:20203.1.14;

对应中的

———3.1.14ISO/IEC10373-1:20203.1.15;

对应中的

———5.13ISO/IEC10373-1:20205.12;

对应中的

———5.14ISO/IEC10373-1:20205.13;

对应中的

———5.15ISO/IEC10373-1:20205.14;

对应中的

———5.16ISO/IEC10373-1:20205.15;

对应中的

———6.8ISO/IEC10373-1:20206.9;

对应中的

———6.9ISO/IEC10373-1:20206.10。

本文件与的技术差异及其原因如下

ISO/IEC10373-1:2020:

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T4937.26IEC60749-26(6.5),;

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T10125ISO9227(5.5),;

Ⅴ

GB/T175541—2025

.

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T14916ISO/IEC7810(5.3.1),;

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T16649.1ISO/IEC7816-1(6.4.4),;

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T16649.2ISO/IEC7816-2(6.3),;

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T17554.2ISO/IEC10373-2(5.16),;

用规范性引用的替换了见以适应我国的技术条件

———GB/T17626.2IEC61000-4-2(6.6.2),;

用替换了见以适应我国的技术条件并放入参考文献中

———GB/T6682ISO3696(5.5),,;

删除了双界面芯片卡静电放电电导率等个术语和定义见的

———“”“”2(ISO/IEC10373-1:2020

3.1.12、3.1.16);

增加了所有部分的规范性引用为增加的有毒有害物质含量要求提供测试

———GB/T39560(),“”

方法

;

删除了的仅记忆卡在国内无实际应用见

———ISO/IEC10373-1:20203.1.2e),(3.1.2);

更改了阻光度的测试方法以配套基础标准的要求符合国内应用现状

———“”,GB/T14916—2022,

见的

(5.11,ISO/IEC10373-1:20205.11);

增加了紫外线见有毒有害物质含量见等个测试方法以配套基础标准

———“”(5.12)“”(5.17)2,

中光有毒性的要求

GB/T14916—2022“”“”;

删除了关于静电效应的附加试验方法见的

———“”(ISO/IEC10373-1:20206.8)。

本文件做了下列编辑性改动

:

纳入了的修正内容所涉及的条款的外侧页边空白位置

———ISO/IEC10373-1:2020/Amd1:2023,

用垂直双线进行了标示

(‖);

删除了资料性附录中引用的文件见

———“ANSI/ESDA/JEDECJS-002”(ISO/IEC10373-1:2020

的第章

2);

更改了中缩略语的描述方式以符合国家标准的要求见的

———3.2(ISO/IEC10373-1:20203.2);

更改了图中原文标引序号重复的问题见的图

———262(ISO/IEC10373-1:202028);

更改了中原文的编辑性错误应为对应国家标准改

———6.4.4:“ISO/IEC7810”“ISO/IEC7816-1”,

为见的

“GB/T16649.1”(ISO/IEC10373-1:20206.4.4)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。