GB/T 17554.2-2015 识别卡 测试方法 第2部分:带磁条的卡

ICS35.240.15

L64

中华人民共和国国家标准

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

识别卡测试方法

:

第部分带磁条的卡

2

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

——:

IdentificationcardsTestmethodsPart2Cardwithmaneticstries

gp

(/:,)

ISOIEC10373-22006IDT

2015-05-15发布2016-01-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4测试方法的默认条款……………………4

4.1测试环境……………4

4.2预处理………………4

4.3测试方法的选择……………………4

4.4默认容差……………4

4.5总度量的不确定度…………………4

5测试方法…………………4

5.1磁条区域的翘曲……………………4

5.2磁条的高度和表面轮廓……………6

5.3磁条的表面粗糙度…………………9

5.4磁条的耐磨性测试…………………10

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5.5幅度测量……………11

5.6磁通翻转间距变化…………………18

5.7磁条黏合力…………………………18

5.8静磁特性……………19

5.9波形Ui6……………21

5.10高矫顽力高密度覆写……………21

()……

附录资料性附录测试头磨损的影响和抗磨损测试头的使用

A23

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

前言

/《》:

识别卡测试方法拟分为如下部分

GBT17554

———:;

第部分一般特性测试

1

———:;

第部分带磁条的卡

2

———:;

第部分带触点的集成电路卡及其相关接口设备

3

———:;

第部分光记忆卡

5

———:;

第部分接近式卡

6

———:。

第部分邻近式卡

7

本部分为/的第部分。

GBT175542

本部分按照/—给出的规则起草。

GBT1.12009

/:《:

本部分使用翻译法等同采用识别卡测试方法第部分带磁条的

ISOIEC10373-220062

卡》。

与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:

———/—产品几何技术规范()技术产品文件中表面结构的表示法

GBT1312006GPS

(:,);

ISO13022002IDT

———/—色漆和清漆漆膜的划格试验(:)。

GBT92861998evISO24091992

q

。。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

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Ⅰ

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

识别卡测试方法

:

第部分带磁条的卡

2

1范围

//—。

GBT17554的本部分规定了符合GBT149162006所定义识别卡特性的一些测试方法每一

,/—,

个测试方法交叉引用一个或多个基本标准这些基本标准可以是GBT149162006也可以是一个或

多个定义了在识别卡应用中使用的信息存储技术的补充标准。

本部分定义了特别针对磁条技术的测试方法。

:,。

注1可接受的准则不包含在本部分中而是在以上提及的国家标准中

:。。

注2本部分描述的若干测试方法可单独进行对一张指定的卡不要求按顺序地通过所有测试

2规范性引用文件

。,

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,()。

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

/—识别卡物理特性(/:,)

GBT149162006ISOIEC78102003IDT

产品几何技术规范()技术产品文件中表面结构的表示法(

ISO1302GPSGeometricalroduct

p

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

()—)

secificationsGPSIndicationofsurfacetextureintechnicalroductdocumentation

pp

:色漆和清漆漆膜的划格试验(—)

ISO24091992PaintsandvarnishesCross-cuttest

产品几何技术产品规范():(

ISO3274表面纹理割面方法接触设备的标准特性

GPSGeomet-

()—:—

ricalroductsecificationsGPSSurfacetextureProfilemethodNominalcharacteristicsof

pp

())

contactstlusinstruments

y

产品几何技术产品规范():

ISO4288表面纹理割面方法表面纹理评估的规则和程序

GPS

(()—:—

cificationsGPSSurfacetextureProfilemethodRulesandrocedures

Geometricalroductsep

pp

)

fortheassessmentofsurfacetexture

/:(—

识别卡记录技术第部分低矫顽力磁条

ISOIEC7811-22IdentificationcardsRecording

—:—)

techniuePart2ManeticstrieLowcoercivit

qgpy

/:(—

识别卡记录技术第部分高矫顽力磁条

ISOIEC7811-66IdentificationcardsRecording

—:—)

techniuePart6ManeticstrieHihcoercivit

qgpgy

/:(—

识别卡记录技术第部分高矫顽力高密度磁条

ISOIEC7811-77Identificationcards

—:—,)

RecordintechniuePart7ManeticstrieHihcoercivithihdensit

gqgpgygy

:(

电气用途的压敏胶带规范第部分测试方法

IEC454-22Secificationforressure-sensitive

pp

—:)

adhesivetaesforelectricalurosesPart2Methodsoftest

ppp

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

1

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

3.1

测试方法testmethod

为了确认识别卡符合若干国家或国际标准而对其特性进行测试的方法。

3.2

可测试功能testablfunctional

y

,:

经受了某些可能的破坏性作用后仍有以下功能

)卡上的任何磁条都给出了根据基本标准进行暴露前后信号幅度间的关系;

a

b)卡上的任何集成电路仍然给出了符合基本标准的复位应答响应;

)与卡上的任何集成电路相关的任何触点仍然给出了符合基本标准的电阻和阻抗;

c

d)卡上的任何光存储器仍然给出了符合基本标准的光特性;

)卡上的任何非接触集成电路仍然可按其用途进行操作。

e

3.3

翘曲warae

pg

与平面的偏差。

3.4

磁通翻转每毫米fluxtransitionsermillimetre

p

/

ftmm

应用于磁条磁道上的线性记录密度。

3.5

记录recording

,。

用所有规定适用的测试参数根据本部分规定的测试方法建立一个磁通翻转的磁道

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

3.6

编码encoding

根,,。

据一种编码规则建立一个修正间距的磁通翻转的磁道以表示数据

3.7

表面粗糙度surfacerouhness

g

,。

表面区域的分布结构在国家或国际标准中参照不同的分辨率和计算方法进行的规定

3.8

幅度测量amlitudemeasurements

p

,。

用所有规定可用的测试参数值根据本部分给出的测试方法测量磁条的读出信号幅度

3.9

磁通翻转间距变化fluxtransitionsacinvariation

pg

,。

沿着平行于编码磁道的中心线的方向测量到的相邻磁通翻转间距与标称间距的偏差

3.10

磁条黏合力maneticstrieadhesion

gp

磁条和卡片间黏合的强度。

3.11

正常使用normaluse

,。

涉及对卡技术而言是适当的设备处理的识别卡使用以及设备操作之间个人文件的存储

[/—,]

GBT149162006定义4.4

3.12

静态饱和()回线()

MHstaticsaturationMHloo

p

,,

磁场强度以足够慢的速率在极限值-Hmax和+Hmax之间循环变化时回线不再改变此时的正常

2

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

()。(())

磁滞回线就是静态饱和MH回线见IEC50221

3.13

矫顽力coercivit

y

H'=H'

cMcJ

,,

持续作用的磁场从先前的饱和磁化状态沿相反方向把磁化减小到零时在与磁条纵轴平行的方向

。(())

测量到的磁场强度见IEC50221

3.14

剩余矫顽力remanentcoercivit

y

Hr

,

作用的磁场把材料从先前的饱和磁化状态沿相反方向减小到零时在与磁条纵轴平行的方向测量

到的磁场强度。

3.15

奥斯特oersted

Oe

,,/。

磁场强度高斯CGS制的单位通常用在磁记录行业约等于79.578Am

3.16

静态消磁staticdemanetisation

g

S160

+

,;(())/;

在相反磁场强度的作用下磁化的减小以-描述磁场强度值在和

MM-160MH=0

rr

/之间的静态饱和()回线的消磁象限的平均斜率。

H=-160kAmMH

3.17

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

矩形比suareness

q

SQ

零磁场强度()下的磁化值与静态饱和回线上处的磁化值()的比值。

H=0MHMH

rmaxmax

注:/()

SQ=MMH

rmax

3.18

纵向矩形比lonitudinalsuareness

gq

SQ||

平行于磁条的纵轴方向测量到的介质矩形比。

3.19

垂直矩形比erendicularsuareness

ppq

SQ⊥

垂直于磁条平面测量到的介质矩形比。

3.20

开关场分布switchinfieldbderivative

gy

SFD

静态磁化曲线()的微分曲线的半高宽度除以同一静态磁化曲线上矫顽力的值。

MH

3.21

开关场斜率switchinfieldbsloe

gyp

SFS

()()(),

在静态磁化MH回线上截取MH=0.5Mr和MH=-0.5Mr时的磁场强度的差值除以矫

顽力。

:()/,(),()。

注SF=|H|-|H|H'其中M-|H|=0.5MM-|H|=-0.5M

S21cM1r2r

3

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

3.22

最大矩形角anleofmaximumsuareness

gq

()

ΘSQmax

矩形比取最大值时的方向和磁条纵轴方向间的夹角。

3.23

分辨率resolution

,,

一些规定的较高记录密度的平均信号幅度除以一些较低记录密度的平均信号幅度再乘以100以

百分比的形式表示。

3.24

UFi

在磁条整个波形的傅立叶频谱上规定频率下的基波的幅值。

4测试方法的默认条款

4.1测试环境

,。

除非另有规定测试应在温度为23℃±3℃和相对湿度为40%~60%的环境下进行

4.2预处理

,。

若测试方法要求预处理在测试前应将被测卡在测试环境中放置24h

4.3测试方法的选择国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

测试应与在相关基本标准中定义的被测卡的属性要求相符合。

4.4默认容差

,,(:)

除非另有规定±5%的默认容差应适用于已给出的量值以规定测试设备的特性例如线性尺寸

(:)。

和测试方法步骤例如测试设备校准

4.5总度量的不确定度

这些测试方法所确定的每个量的总度量的不确定度应在测试报告中予以说明。

5测试方法

5.1磁条区域的翘曲

(/,/,

本测试的目的是测量被测样品卡磁条区域的翘曲程度见ISOIEC7811-2ISOIEC7811-6和

/)。

ISOIEC7811-7

本测试适用于凸印卡和非凸印卡。

5.1.1测试装置

,:

测量装置如图所示包括

1

),。

a一块符合ISO1302要求表面粗糙度不大于3.2m的水平刚性板该平台应含有一个使千

μ

分尺的探头能通过的小孔;

4

/—//:

GBT17554.22015ISOIEC10373-22006

),,

b一个精度为2.5m的千分尺上面有探头探头的接触区是一个直径为3mm~8mm范围的

μ

,;

半圆球探头的外压力应为F=0.6N±0.3N

)在相对于磁条区域的卡片正面均匀施加的力。

cF=2.2N

无比例关系

图测量装置

1

5.1.2步骤