适用范围：本文件规定了在可见光谱范围（400 nm～760 nm）内使用的显微镜盖玻片的尺寸偏差、厚度和光学特性的要求。 本文件适用于显微镜盖玻片的设计、制造和应用。

适用范围：本文件包含GB/T 44275所有部分中使用的术语。以下内容属于本文件范围：--与

适用范围：本文件规定了数字工厂框架（DF框架）的通用要求。数字工厂框架是一组对生产系统建模的模型元素（DF 框架）和规则。 DF框架规定了： ——生产系统资产的模型； ——不同生产系统资产之间关系的模型； ——生产系统资产的信息流。 DF框架不包括建筑物结构、输入资源（如原材料、装配部件）、消耗品、生产中的工件或最终产品的表示。 本部分适用于任何工业部门（如航空工业、汽车工业、化工、木材工业）的三种生产过程（连续控制、批量控制和离散控制）。

适用范围：本文件包含对GB/T 44275 的介绍。 开放技术字典（OTD）是用于编码主数据的技术概念的集合。GB/T 44275 定义了这些技术概念的 字典数据模型，包括概念的全局明确标识，它们的术语、定义和关于这些概念的其他辅助信息。它还为 使用OTD 概念编码的主数据和标识指南（IG）提供了数据模型，并允许接收组织界定其对主数据的要 求。本文件适用于采用开放技术字典技术的主数据数据字典的构建、开发、使用、运行和维护。

适用范围：本文件给出了动态光散射法粒度分析仪的原理，规定了其性能、电源电压适应性、环境适应性、安全性、机械结构、试验条件等技术要求，描述了其准确性、重复性的试验方法。本文件适用于测量纳米级及亚微米级颗粒的平均粒径、粒径分布等参数的粒度分析仪的试验、检测、运行和维护。

适用范围：本文件规定了用于测试三相配电系统相序的测量设备的要求。相序的指示可能是机械式的、视觉式的和/或听觉式的。 本文件不适用于对其他量的额外测量，也不适用于监控继电器。 注：IEC 61010-1:2016 中附录I 描述了常见的三相配电系统。

适用范围：本文件规定了玻璃仪器内表面热端喷涂液沉积量试验的原理、试剂和材料、仪器设备、样品、试验步骤、数据处理 、结果表示、试验报告等。本文件适用于经过热端喷涂的玻璃仪器内表面沉积锡元素量的试验方法。

适用范围：本文件描述了液相色谱与原子荧光光谱联用仪性能测试的方法。本文件适用于液相色谱与原子荧光光谱联用仪性能的测试。

适用范围：本文件适用于离散型装备制造企业信息系统数据交互

适用范围：本文件规定了卫星导航定位探空系统的地面接收机的技术要求，给出了对应的试验方法，确立了地面接收机的组成和检验规则，规定了标识与随行文件，包装、运输和贮存。 本文件适用于地面接收机的设计、生产和验收。

适用范围：本文件规定了石化行业高架火炬气排放连续监测的系统组成和功能、技术性能、监测站房、安装、技术指标、调试检测、技术验收、日常运行管理、日常运行质量保证以及数据审核和处理等有关要求。 本文件适用于石油炼制、石油化学、有机化工、煤化工等石化行业使用的高架火炬。

适用范围：本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。 本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。 注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。 注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。 注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

适用范围：本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。 本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。 本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。