19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法 现行
    译:GB/T 17444-2013 Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
    适用范围:本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 13584-2011 红外探测器参数测试方法 现行
    译:GB/T 13584-2011 Measuring methods for paramaters of infrared detectors
    适用范围:本标准规定了红外探测器(以下简称探测器)的参数测试方法及其检测设备和仪器的要求。 本标准适用于各类单元红外探测器的参数测试,也适用于多元红外探测器相应的参数测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2011-12-30 | 实施时间: 2012-07-01
  • GB/T 18904.1-2002 半导体器件 第12-1部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 现行
    译:GB/T 18904.1-2002 Semiconductor devices—Part 12-1:Optoelectronic devices—Blank detail specification for light emitting/infrared emitting diodes with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2002-12-04 | 实施时间: 2003-05-01
  • GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 被代替
    译:GB/T 17444-1998 The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-07-30 | 实施时间: 1999-05-01
  • GB/T 13583-1992 红外探测器外形尺寸系列 现行
    译:GB/T 13583-1992 Outline dimension series of infrared detectors
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1992-07-15 | 实施时间: 1993-05-01
  • GB/T 13584-1992 红外探测器参数测试方法 被代替
    译:GB/T 13584-1992 Measuring methods for parameters of infrared detectors
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1992-07-15 | 实施时间: 1993-05-01