GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法

GB/T 17444-2013 Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

国家标准 中文简体 现行 页数:26页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 17444-2013
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
工业和信息化部电子工业标准化研究所
适用范围
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

发布历史

研制信息

起草单位:
中国科学院上海技术物理研究所
起草人:
丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军
出版信息:
页数:26页 | 字数:48 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31.260

L52

中华人民共和国国家标准

/—

GBT174442013

代替/—

GBT174441998

红外焦平面阵列参数测试方法

Measurinmethodsforarametersofinfraredfocallanearras

gppy

2013-11-12发布2014-04-15实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT174442013

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2术语和定义………………1

3符号和单位………………4

4测试方法…………………5

:

4.1方法3001响应率和响应率不均匀性……………5

:

4.2方法3002噪声电压………………8

:

4.3方法3003探测率…………………9

:

4.4方法3004噪声等效温差…………9

:

4.5方法3005有效像元率……………10

:

4.6方法3006固定图形噪声…………11

:

4.7方法3007噪声等效功率…………11

:

4.8方法3008饱和辐照功率…………12

:

4.9方法3009动态范围………………12

:

4.10方法3010相对光谱响应………

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