国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：DB13/T 6033-2024 Test method for low concentration hydrogen effect of semiconductor devices【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间： 2024-10-28 | 实施时间： 2024-11-28收藏 -
现行
译：DB13/T 5696-2023 The rapid screening method for defects in GaN HEMT RF power devices based on high-temperature reverse bias testing【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间： 2023-05-06 | 实施时间： 2023-06-06收藏
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现行
译：DB13/T 5695-2023 The testing method for trap effect of GaN HEMT RF device【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间： 2023-05-06 | 实施时间： 2023-06-06收藏
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