• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2024
  3. 2023
  4. 2022
  5. 2021
  6. 2020
  7. 2019及以前

• 废止
  DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
  译：DB52/T 1104-2016 Semiconductor device junction-cage thermal resistance transient testing method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
  发布单位或类别：(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间： 2016-04-01 | 实施时间： 2016-10-01
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• 废止
  DB52/T 860-2013 5KP系列硅瞬态电压抑制二极管详细规范
  译：DB52/T 860-2013 Detailed specification for 5KP series silicon transient voltage suppressor diodes
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管
  发布单位或类别：(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间： 2013-12-06 | 实施时间： 2014-02-01
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• 废止
  DB52/T 861-2013 2CB003型硅雪崩整流二极管详细规范
  译：DB52/T 861-2013 Model 2CB003 Silicon Avalanche Rectifier Diode Detailed Specification
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管
  发布单位或类别：(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间： 2013-12-06 | 实施时间： 2014-02-01
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• 废止
  DB52/T 844-2013 半导体电流调整管
  译：DB52/T 844-2013 semiconductor current regulating tube
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
  发布单位或类别：(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间： 2013-10-16 | 实施时间： 2013-12-01
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