DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法
DB13/T 5696-2023 The rapid screening method for defects in GaN HEMT RF power devices based on high-temperature reverse bias testing
基本信息
发布历史
-
2023年05月
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研制信息
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- 页数:13页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
ICS31.080
CCSL40
13
河北省地方标准
DB13/T5696—2023
基于高温反偏试验的GaNHEMT射频功率器
件缺陷快速筛选方法
2023-05-06发布2023-06-06实施
河北省市场监督管理局 发布
DB13/T5696—2023
目次
前言...............................................................................II
引言..............................................................................III
1范围.............................................................................1
2规范性引用文件...................................................................1
3术语和定义.......................................................................1
4文字符号.........................................................................1
5筛选原理.........................................................................2
6筛选条件.........................................................................2
7筛选系统构成和要求...............................................................2
8筛选方法.........................................................................2
9判据.............................................................................5
10试验报告........................................................................5
附录A(资料性)电压控制及电流采集模块电路.........................................6
参考文献............................................................................7
I
DB13/T5696—2023
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的
规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本文件由石家庄市市场监督管理局提出。
本文件起草单位:河北博威集成电路有限公司。
本文件主要起草人:郭跃伟、王鹏、张博、王静辉、闫志峰、郝永利、王景亮、刘子浩。
本文件为首次发布。
II
DB13/T5696—2023
引言
GaNHEMT功率器件在生产过程中可能会存在一系列缺陷,例如介质缺陷、表面沾污、裂纹、沟
道漏电以及局部发热点等,这些缺陷在使用初期不易被发现,而在长期使用中极易导致器件失效。
用户使用过程中,尤其在单个模块或组件中使用多个GaNHEMT功率器件的应用场景下,单个器件的
失效可能导致整个模块或组件失效或报废,因此对于GaNHEMT功率器件失效率要求更为严苛。
高温反偏是在一定的温度下、对器件连续施加一定时间的高温直流反向偏置电应力,通过电热
应力的综合作用来加速器件内部物理变化和化学反应过程,促使隐藏于器件内部的各种潜在缺陷在
早期暴露出来,从而达到剔除早期失效器件的目的。通过在高温反偏过程中监测器件的电流变化特
性,找出缺陷器件和正常器件的电流变化特性差异,达到可在较短时间内剔除存在早期失效风险器
件的目的。特制订本文件。
III
DB13/T5696—2023
基于高温反偏试验的
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