• DB42/T 2161-2023 新型显示器件喷墨打印技术通用要求 现行
    译:DB42/T 2161-2023 Ink-jet printing technology for new display devices generic requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB42)湖北省地方标准 | 发布时间: 2023-12-23 | 实施时间: 2024-02-23
  • DB61/T 1687-2023 手机显示屏光学参数测量技术规范 现行
    译:DB61/T 1687-2023 Optical parameter measurement technology specification for mobile display screens
    适用范围:本文件规定了手机显示屏光学参数测量技术基本要求、最大亮度和亮度均匀性、亮度对比度、白场色度、白场色品不均匀度、色域和不同环境光照下的光学参数的要求。本文件适用于手机显示屏产品,其他类似手持式移动终端显示设备参照使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB61)陕西省地方标准 | 发布时间: 2023-05-25 | 实施时间: 2023-06-25
  • DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法 现行
    译:DB13/T 5696-2023 The rapid screening method for defects in GaN HEMT RF power devices based on high-temperature reverse bias testing
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间: 2023-05-06 | 实施时间: 2023-06-06
  • DB13/T 5695-2023 GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法 现行
    译:DB13/T 5695-2023 The testing method for trap effect of GaN HEMT RF device
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间: 2023-05-06 | 实施时间: 2023-06-06
  • DB63/T 2021-2022 市场监管信息技术服务管理规范 现行
    译:DB63/T 2021-2022 Market supervision information technology service management specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :01.040.35信息技术、办公机械设备 (词汇) 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB63)青海省地方标准 | 发布时间: 2022-03-10 | 实施时间: 2022-04-10
  • DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程 现行
    译:DB61/T 1448-2021
    适用范围:本文件规定了大功率半导体分立器件(以下简称器件)间歇寿命试验的术语和定义、试验系统、试 验程序、失效判据及试验报告的要求。 本文件适用于大功率双极型晶体管、场效应晶体管、绝缘栅场效应晶体管、二极管等半导体分立器 件的间歇寿命试验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB61)陕西省地方标准 | 发布时间: 2021-03-22 | 实施时间: 2021-04-22
  • DB22/T 3121-2020 COB小间距LED显示屏环境试验技术规范 现行
    译:DB22/T 3121-2020
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB22)吉林省地方标准 | 发布时间: 2020-05-28 | 实施时间: 2020-06-15
  • DB61/T 1250-2019 Sic(碳化硅)材料半导体分立器件通用规范 废止
    译:DB61/T 1250-2019 Sic (Silicon Carbide) Material Semiconductor Discrete Devices General Specification
    适用范围:本标准适用于SiC基半导体分立器件的设计、生产制造和供货
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB61)陕西省地方标准 | 发布时间: 2019-06-25 | 实施时间: 2019-07-25
  • DB13/T 2789-2018 显示用向列相热致液晶通用技术要求 现行
    译:DB13/T 2789-2018 Display-use aligned nematic thermally induced liquid crystal general technical requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间: 2018-07-16 | 实施时间: 2018-08-16
  • DB35/T 1611-2016 COB 封装白光发光二极管技术规范 现行
    译:DB35/T 1611-2016
    适用范围:本标准规定了COB封装白光发光二极管的术语和定义、产品类别、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于室内外照明用的COB封装白光发光二极管(以下简称COB LED),其他颜色的COB封装发光二极管可参考使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.20晶体闸流管 【中国标准分类号(CCS)】 :L45微波、毫米波二、三极管
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2016-11-11 | 实施时间: 2017-02-11
  • DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 废止
    译:DB52/T 1104-2016 Semiconductor device junction-cage thermal resistance transient testing method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间: 2016-04-01 | 实施时间: 2016-10-01
  • DB44/T 1528.2-2015 裸眼立体显示器 第2部分:光电参数测量方法 现行
    译:DB44/T 1528.2-2015 Naked-eye stereoscopic display Part 2: Measurement methods for photometric parameters
    适用范围:本部分规定了裸眼立体显示器3D状态整机功耗、待机功耗和亮度与功率比的测量条件和测量方法。 本部分适用于双视点裸眼立体显示器、多视点裸眼立体显示器和集成成像裸眼立体显示器。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB44)广东省地方标准 | 发布时间: 2015-01-30 | 实施时间: 2015-04-30
  • DB44/T 1528.1-2015 裸眼立体显示器 第1部分:光学参数测量方法 现行
    译:DB44/T 1528.1-2015 Naked-eye stereoscopic display Part 1: Measurement methods for optical parameters
    适用范围:本部分规定了裸眼立体显示器光学性能的测量条件和测量方法。 本部分适用于双视点裸眼立体显示器、多视点裸眼立体显示器和集成成像裸眼立体显示器。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB44)广东省地方标准 | 发布时间: 2015-01-30 | 实施时间: 2015-04-30
  • DB52/T 860-2013 5KP系列硅瞬态电压抑制二极管详细规范 废止
    译:DB52/T 860-2013 Detailed specification for 5KP series silicon transient voltage suppressor diodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L41半导体二极管
    发布单位或类别:(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间: 2013-12-06 | 实施时间: 2014-02-01
  • DB52/T 861-2013 2CB003型硅雪崩整流二极管详细规范 废止
    译:DB52/T 861-2013 Model 2CB003 Silicon Avalanche Rectifier Diode Detailed Specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L41半导体二极管
    发布单位或类别:(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间: 2013-12-06 | 实施时间: 2014-02-01
  • DB35/T 1369-2013 LED显示屏现场测量方法 废止
    译:DB35/T 1369-2013 LED display field measurement method
    适用范围:本标准规定了LED显示屏的电学和光学特性的现场测量方法。 本标准适用于户外及室内场所安装的发光二极管(LED)显示屏的现场测量。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2013-12-04 | 实施时间: 2014-03-01
  • DB35/T 1373-2013 车载LED显示屏通用技术规范 废止
    译:DB35/T 1373-2013 Vehicle-mounted LED display general technical specification
    适用范围:本标准规定了车载LED显示屏的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、 贮存、使用说明书等要求。 本标准适用于安装在汽车、火车、轮船等运动载体上的LED显示屏(以下简称为“显示屏”)。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2013-12-04 | 实施时间: 2014-03-01
  • DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法 现行
    译:DB35/T 1370-2013
    适用范围:本标准规定了发光二极管芯片(以下简称芯片)的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L45微波、毫米波二、三极管
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2013-12-04 | 实施时间: 2014-03-01
  • DB52/T 844-2013 半导体电流调整管 废止
    译:DB52/T 844-2013 semiconductor current regulating tube
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-DB52)贵州省地方标准 | 发布时间: 2013-10-16 | 实施时间: 2013-12-01
  • DB34/T 1750-2012 电容式触摸屏 废止
    译:DB34/T 1750-2012 Capacitive touch screen
    适用范围:本标准规定了电容式触摸屏的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、标签、包装、运输和贮存。 本标准适用于以钢化玻璃为主要原料,经黄光蚀刻等工艺制成的双面 ITO 或单面 ITO 的电容式触摸屏(以下简称触摸屏)。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-DB34)安徽省地方标准 | 发布时间: 2012-12-24 | 实施时间: 2013-01-24