国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译：GB/T 5238-1995 Monocrystalline germanium【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-10-17 | 实施时间： 1996-03-01收藏 -
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译：GB/T 15713-1995 Monocrystalline germanium slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.040.20绝缘气体 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-10-17 | 实施时间： 1996-03-01收藏
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译：GB/T 6618-1995 Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 6616-1995 Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 6619-1995 Test methods for bow of silicon slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 6621-1995 Test methods for surface flatness of silicon polished slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 14849.3-1993 Silicon metal—Determination of calcium content【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-12-24 | 实施时间： 1994-09-01收藏
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译：GB/T 14847-1993 Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-12-24 | 实施时间： 1994-09-01收藏
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译：GB/T 14139-1993 Silicon epitaxial wafers【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14141-1993 Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14142-1993 Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 13789-1992 Magnetic sheet and strip—Methods of measurement of magnetic properties by means of a single sheet tester【国际标准分类号(ICS)】 ：29.040.10绝缘油 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1992-11-16 | 实施时间： 1993-06-01收藏
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译：GB/T 13389-1992 Practice for conversion between resistivity and dopant density for boron-doped and phosphorus-doped silicon【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1992-02-19 | 实施时间： 1992-10-01收藏
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译：GB/T 13388-1992 Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1992-02-19 | 实施时间： 1992-10-01收藏
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译：GB/T 11093-1989 Liquid encapsulated czochralski-grown gallium arsenide single crystals and As-cut slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1989-03-31 | 实施时间： 1990-03-01收藏
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废止转行标
译：GB/T 3640-1988 Plain carbon steel pipes for electric wire【国际标准分类号(ICS)】 ：29.080.20套管 【中国标准分类号(CCS)】 ：H48钢管、铸铁管发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1988-02-22 | 实施时间： 1989-03-01收藏
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被代替
译：GB/T 5026-1985 The measurement method of amplitude permeability of soft magnetic alloys【国际标准分类号(ICS)】 ：29.040.10绝缘油 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1985-03-28 | 实施时间： 1986-01-01收藏
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被代替
译：GB/T 3848-1983 Hardmetals—determination of (the magnetization) coercivity【国际标准分类号(ICS)】 ：29.040绝缘流体 【中国标准分类号(CCS)】 ：H72粉末冶金材料与制品发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1983-09-14 | 实施时间： 1984-09-01收藏
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现行
译：GB/T 3132-1982 Safety fuses【国际标准分类号(ICS)】 ：29.120.50熔断器和其他过载保护装置 【中国标准分类号(CCS)】 ：H62重金属及其合金发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1982-05-28 | 实施时间： 1983-03-01收藏
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现行