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SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法

SJ/T 11632-2016 Testing method for micro-crack defects in silicon wafers used in solar cells

行业标准-电子 简体中文 现行 页数：9页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ/T 11632-2016
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H21 金属物理性能试验方法
国际标准分类号（ICS）
77.040 金属材料试验
发布日期
2016-04-05
实施日期
2016-09-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

文前页预览

SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法-第1页
SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法-第2页

研制信息

起草单位：
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司等
起草人：
熊伟、贺东江、卫国军 等
出版信息：
页数：9页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

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