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GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱

GB/T 8756-2018 Collection of metallographs on defects of germanium crystal

国家标准 中文简体 现行 页数：39页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 8756-2018
相关服务
商用授权
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H80/84 半金属与半导体材料
国际标准分类号（ICS）
29.045 半导体材料
发布日期
2018-12-28
实施日期
2019-07-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工过程中产生的缺陷，给出了各类缺陷的特征、产生原因及消除方法。本标准适用于区熔锗锭、锗单晶、锗研磨片和锗抛光片生产过程中产生的缺陷。

发布历史

文前页预览

GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱-第1页
GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱-第2页
GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱-第3页

研制信息

起草单位：
云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、有研光电新材料有限责任公司、云南中科鑫圆晶体材料有限公司、中锗科技有限公司、广东先导稀材股份有限公司、云南东昌金属加工有限公司、有色金属技术经济研究院
起草人：
普世坤、惠峰、董汝昆、冯德伸、柯尊斌、尹士平、朱刘、李素青
出版信息：
页数：39页 | 字数：74 千字 | 开本： 大16开

内容描述

ICS29.045

H80

中华人民共和国国家标准

/—

GBT87562018

代替/—

GBT87561988

锗晶体缺陷图谱

Collectionofmetallorahsondefectsofermaniumcrstal

gpgy

2018-12-28发布2019-07-01实施

国家市场监督管理总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT87562018

前言

本标准按照/—给出的规则起草。

GBT1.12009

/—《》。/—,

本标准代替GBT87561988锗晶体缺陷图谱本标准与GBT87561988相比主要技术变

化如下:

———,、、、、、、、、、、

删除了原标准缺陷图谱张分别为图图图图图图图图图图

341234689151620

、、、、、、、、、、、、、、

图图图图图图图图图图图图图图

2123242829303233788788909195

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图图图图图

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    GB/T 14264
    GB/T 14264-2024 半导体材料术语
    现行
    GB/T 14264-1993 半导体材料术语
    被代替
    GB/T 14264-2009 半导体材料术语
    被代替
    替代以下标准
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    GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱
    被代替

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