19 试验
65 农业
77 冶金
  • SJ/T 11846-2022 电压调整器低频噪声参数测试方法 现行
    译:SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2022-10-20 | 实施时间: 2023-01-01
  • SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序 现行
    译:SJ/T 11875-2022 The stress testing procedure for semiconductor integrated circuits used in electric vehicles
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2022-10-20 | 实施时间: 2023-01-01
  • SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 现行
    译:SJ/T 11704-2018 The test method for digital signal transmission characteristics of microelectronic packaging
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法 现行
    译:SJ/T 10805-2018 Voltage comparator testing method for semiconductor integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法 现行
    译:SJ/T 2406-2018 SJ/T 2406-2018 Microwave circuit model naming method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11700-2018 IP核质量信息描述方法 现行
    译:SJ/T 11700-2018 SJ/T 11700-2018 IP core quality information description method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法 现行
    译:SJ/T 11705-2018 Microelectronic device packaging ground and power supply impedance testing method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南 现行
    译:SJ/T 11699-2018 SJ/T 11699-2018 IP Core Testability Design Guidelines
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口 现行
    译:SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 现行
    译:SJ/T 11706-2018 The testing method for field-programmable gate array (FPGA) based on semiconductor integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 现行
    译:SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 现行
    译:SJ/T 11703-2018 Testing method for crosstalk characteristics of digital microelectronic devices packaging
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求 现行
    译:SJ/T 11585-2016 Serial Memory Interface Requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-01-15 | 实施时间: 2016-06-01
  • SJ/Z 11359-2006 集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法 现行
    译:SJ/Z 11359-2006 Taxonomy of functional verification for integrated circuit IP core development and integration
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/T 10607-1994 半导体集成电路门阵列设计总则 现行
    译:SJ/T 10607-1994 Gate array design generals for semiconductor integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1994-10-11 | 实施时间: 1995-04-01
  • SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理 现行
    译:SJ/T 10427.1-1993 The basic principle of testing FM modulation converters in semiconductor integrated circuit audio circuits is given
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1993-12-17 | 实施时间: 1994-06-01
  • SJ/T 10335-1993 半导体集成电路电视机电路系品种 现行
    译:SJ/T 10335-1993 Series and products of semiconductor integrated circuits for use in TV
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1993-03-24 | 实施时间: 1993-10-01
  • SJ/T 10308-1992 半导体集成电路陶瓷扁平外壳详细规范 废止
    译:SJ/T 10308-1992 Detail specification for ceramic flat package of semiconductor integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1992-06-15 | 实施时间: 1992-12-01
  • SJ/T 10254-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范 废止
    译:SJ/T 10254-1991 Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CB301 CMOS analogue switch
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1991-11-12 | 实施时间: 1992-01-01
  • SJ/T 10253-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范 废止
    译:SJ/T 10253-1991 Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CC4046 CMOS digital phase-locked loop
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1991-11-12 | 实施时间: 1992-01-01