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  • SJ/T 11846-2022 电压调整器低频噪声参数测试方法 现行
    SJ/T 11846-2022 电压调整器低频噪声参数测试方法
    译：SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01
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  • SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序 现行
    SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序
    译：SJ/T 11875-2022 The stress testing procedure for semiconductor integrated circuits used in electric vehicles
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01
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  • SJ/T 11790-2021 固态盘能耗测试方法 现行
    SJ/T 11790-2021 固态盘能耗测试方法
    译：SJ/T 11790-2021
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L63计算机外围设备
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2021-10-08 | 实施时间： 2021-11-01
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  • SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法 现行
    SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法
    译：SJ/T 2406-2018
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 现行
    SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
    译：SJ/T 11704-2018 The test method for digital signal transmission characteristics of microelectronic packaging
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法 现行
    SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
    译：SJ/T 10805-2018 Voltage comparator testing method for semiconductor integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南 现行
    SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南
    译：SJ/T 11699-2018
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11700-2018 IP核质量信息描述方法 现行
    SJ/T 11700-2018 IP核质量信息描述方法
    译：SJ/T 11700-2018
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法 现行
    SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
    译：SJ/T 11705-2018 Microelectronic device packaging ground and power supply impedance testing method
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口 现行
    SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口
    译：SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 现行
    SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
    译：SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 现行
    SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
    译：SJ/T 11703-2018 Testing method for crosstalk characteristics of digital microelectronic devices packaging
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 现行
    SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
    译：SJ/T 11706-2018 The testing method for field-programmable gate array (FPGA) based on semiconductor integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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  • SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求 现行
    SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求
    译：SJ/T 11585-2016 Serial Memory Interface Requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
    发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01
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