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现行
译：SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01
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现行
译：SJ/T 11875-2022 The stress testing procedure for semiconductor integrated circuits used in electric vehicles
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01
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现行
译：SJ/T 11790-2021
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L63计算机外围设备
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2021-10-08 | 实施时间： 2021-11-01
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现行
译：YD/T 3944-2021 The benchmarking method for artificial intelligence chips
适用范围：本文件规定了人工智能芯片基准测试框架、评测指标及评估方法，主要包括基本信息披露和技术测试。 本文件适用于芯片厂商或检测机构对具有人工智能算法加速能力的处理器或加速器的基准测试工作。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-YD)行业标准-邮电通信 | 发布时间： 2021-08-21 | 实施时间： 2021-11-01
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译：SJ/T 2406-2018
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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译：SJ/T 11704-2018 The test method for digital signal transmission characteristics of microelectronic packaging
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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译：SJ/T 10805-2018 Voltage comparator testing method for semiconductor integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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现行
译：SJ/T 11699-2018
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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现行
译：SJ/T 11700-2018
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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译：SJ/T 11705-2018 Microelectronic device packaging ground and power supply impedance testing method
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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现行
译：SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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译：SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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现行
译：SJ/T 11703-2018 Testing method for crosstalk characteristics of digital microelectronic devices packaging
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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译：SJ/T 11706-2018 The testing method for field-programmable gate array (FPGA) based on semiconductor integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01
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现行
译：SJ/T 11585-2016 Serial Memory Interface Requirements
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01
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译：GA/T 1171-2014 Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
适用范围：本标准规定了集成电路芯片相似性比对检验方法。
本标准适用于集成电路芯片相似性比对，检验集成电路芯片设计的相似性。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间： 2014-07-09 | 实施时间： 2014-07-09
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