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    译:GB/T 5169.26-2018 Fire hazard testing for electric and electronic products—Part 26:Smoke obscuration—Summary and relevance of test methods
    适用范围:GB/T 5169的本部分给出了用于评估烟模糊的试验方法概要,简要概括了国际标准、国家标准或行业标准中通用的静态和动态试验方法,包括电工电子产品及其材料以及火情的相关性的特别观察,同时给出了使用建议。 本部分旨在供产品标委会根据IEC指南104和ISO/IEC指南51中规定的原则编写标准。 产品标委会的任务之一就是在编写标准时,凡适用之处都要使用本部分。除非有关标准特别提及或列出,否则本部分的要求、试验方法或试验条件将不适用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.220.99有关消防的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 :K04基础标准和通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-04-01
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    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-01-01
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    译:GB/T 4937.20-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20:Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
    适用范围:GB/T 4937的本部分规定了塑封表面安装半导体器件(SMD)的耐焊接热评价方法。该试验为破坏性试验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-01-01
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    译:GB/T 4937.21-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 21:Solderability
    适用范围:GB/T 4937的本部分规定了采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的可焊性试验程序。 本试验方法规定了通孔、轴向和表面安装器件(SMDs)的“浸入和观察”可焊性试验程序,以及可选的SMDs板级安装可焊性试验程序,用于模拟在元器件使用时采用的焊接过程。本试验方法也规定了老化条件,该条件为可选。 除有关文件另有规定外,本试验属于破坏性试验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-01-01
  • GB/T 5169.25-2018 电工电子产品着火危险试验 第25部分:烟模糊 总则 现行
    译:GB/T 5169.25-2018 Fire hazard testing for electric and electronic products—Part 25:Smoke obscuration—General guidance
    适用范围:GB/T 5169的本部分给出的导则涉及以下方面: a)烟模糊的光学测量; b)光学烟试验方法概况; c)选择试验方法时需要考虑的问题; d)烟试验数据的表达; e)光学烟数据与危险评估的相关性。 产品标委会的任务之一就是在编写自己的出版物时,凡适用之处都要使用这些基本安全出版物。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.220.99有关消防的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 :K04基础标准和通用方法
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  • GB/T 5169.24-2018 电工电子产品着火危险试验 第24部分:着火危险评定导则 绝缘液体 现行
    译:GB/T 5169.24-2018 Fire hazard testing for electric and electronic products—Part 24:Guidance for assessing the fire hazard—Insulating liquids
    适用范围:GB/T 5169的本部分给出了将电气绝缘液体产生的着火危险降至最小的导则,这些绝缘液体的使用涉及: a)电工设备和系统; b)人群、建筑物及其中的物品。 本部分旨在供产品标委会根据IEC指南104:2010和ISO/IEC指南51:1999中规定的原则编写标准。并不适用于制造商或认证机构。 产品标委会的任务之一就是在编写标准时,凡适用之处都要使用本部分。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.220.40材料和制品的可燃性和燃烧性能 【中国标准分类号(CCS)】 :K04基础标准和通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-04-01
  • GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度 现行
    译:GB/T 4937.22-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 22:Bond strength
    适用范围:GB/T 4937的本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)。 本部分的目的是测量键合强度或确定键合强度是否满足规定的要求。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-01-01
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    译:GB/T 4937.18-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18:Ionizing radiation(total dose)
    适用范围:GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行60Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。本部分仅适用于稳态辐照,并不适用于脉冲型辐照。本部分主要针对军事或空间相关的应用。本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化,因而被认为是破坏性试验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-01-01
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    译:GB/T 4937.30-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-01-01
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    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2018-09-17 | 实施时间: 2019-06-01