国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译:T/CACC 0002-2024 Vehicle chip technology - RF front-end chip technology requirements and test methods - Part 1: Cellular mobile communication适用范围:范围:本文件适用于整车厂、零部件供应商、软件供应商、第三方测评机构等企业,开展汽车用射频前端芯片的研发测试和应用等; 主要技术内容:本文件规定汽车用射频前端芯片的可靠性要求、制式功能要求、技术要求和试验方法。本文件适用于整车厂、零部件供应商、软件供应商、第三方测评机构等企业,开展汽车用射频前端芯片的研发测试和应用等【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2024-11-29 | 实施时间: 2025-01-01收藏 -
现行
译:T/SZAA 002-2024 Vehicle domain controller universal power drive device testing procedure适用范围:范围:本标准适用于乘用车、商用车车身域控制器通用器件功率驱动装置测试,其它非乘用车及商用车车身域控制器通用器件功率驱动装置测试参照执行; 主要技术内容:本标准规定了乘用车及商用车车身域控制器通用功率驱动装置的技术要求、检测方法、包装、贮存、标识要求。本标准适用于乘用车、商用车车身域控制器通用器件功率驱动装置测试,其它非乘用车及商用车车身域控制器通用器件功率驱动装置测试参照执行【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2024-11-14 | 实施时间: 2024-11-30收藏 -
现行
译:T/CIE 199-2023 Bending test methods of flexible semiconductor integrated circuit适用范围:本文件规定了柔性半导体集成电路弯曲试验方法的一般要求和试验项目。 本文件适用于柔性半导体集成电路在筛选或质量鉴定试验时所需开展的弯曲试验。【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2023-12-29 | 实施时间: 2023-12-29收藏 -
现行
译:T/CIE 198-2023 Specification for reliability test of flexible semiconductor integrated circuit适用范围:本文件规定了柔性半导体集成电路可靠性试验的一般要求、检验批、质量评定、抽样要求、鉴定试验、质量一致性试验、筛选试验相关内容。 本文件适用于柔性半导体集成电路可靠性的评价、认证与考核。【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2023-12-29 | 实施时间: 2023-12-29收藏 -
现行
译:T/ZSA 185-2023 Car integrated circuit failure analysis procedure and requirements适用范围:范围:本文件规定了汽车用集成电路失效分析的总则、一般要求和详细程序与要求。 本文件适用于汽车用集成电路的失效分析; 主要技术内容:本文件规定了汽车用集成电路失效分析的总则、一般要求和详细程序与要求。本文件适用于汽车用集成电路的失效分析【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2023-12-04 | 实施时间: 2023-12-05收藏 -
现行
译:T/CESA 1266-2023 Semiconductor integrated circuits optical interconnection technology requirements适用范围:主要技术内容:本文件界定了交换机与服务器中所使用的共封装收发器系统架构,规定了与共封装光收发器相关的交换机与服务器网络接口卡的总体布局、光学特性、电学特性、数字管理接口、机械结构等技术要求。本文件适用于采用共封装收发器技术的微电子芯片光互连接口【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2023-07-27 | 实施时间: 2023-08-01收藏 -
现行
译:T/CIE 155-2023 Non-volatile phase-change memory electrical performance testing method适用范围:本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法,分为器件性能测试和器件可靠性测试,器件性能测试包括电流电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗;器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。本文件适用于相变存储器件单元(以下简称器件)。【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2023-03-20 | 实施时间: 2023-03-20收藏 -
现行
译:T/CIE 151-2022 Dynamic aging test method for Field Programmable Gate Array (FPGA) chips适用范围:本文件规定了现场可编程门阵列(FPGA)芯片动态老化要求及试验方法。 本文件适用于FPGA芯片的提供者、使用者和第三方开展老化试验及评价。【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2022-12-31 | 实施时间: 2023-01-31收藏 -
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译:T/ZZB 2858-2022适用范围:主要技术内容:本文件规定了集成电路小外形封装引线框架(以下简称引线框架)的术语、 定义和缩略语、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和质量承诺。本文件适用于包括 SOP、 TSSOP、 SSOP、 QSOP、 MSOP 等集成电路小外形封装冲制型引线框架【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2022-12-08 | 实施时间: 2022-12-31收藏 -
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译:T/SICA 003-2022 The technical specification for dual-frequency multi-interface temperature and humidity detection tag chip technology based on RFID transmission and storage technology适用范围:主要技术内容:主要包括基于RFID传输和存储技术的双频多接口温湿度检测标签芯片的术语和定义、缩略语、产品特性、测试方法等内容,其中产品特性,具体涵盖电气特性、通信接口、数据检测、RTC计时、UID、数据存储、异常处理等多个方面【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2022-10-31 | 实施时间: 2022-11-30收藏 -
现行
译:T/CIE 134-2022 Magnetic random access memory (MRAM) chip data retention time testing method适用范围:本文件规定了磁随机存储芯片数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本文件适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2022-08-10 | 实施时间: 2022-08-10收藏 -
现行
译:T/CIE 133-2022 Test method for data retention time of magnetic random access memory device适用范围:本文件规定了磁随机存储器件数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本文件适用于磁随机存储器件的数据保持时间测试和磁随机存储器件的数据保持时间验证。【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2022-08-10 | 实施时间: 2022-08-10收藏 -
现行
译:T/CIE 081-2020 Industrial Grade High Reliability Integrated Circuit Evaluation Part 16: High Frequency Radio Frequency ID (RFID)适用范围:主要技术内容:本文件规定了工业级高频射频识别芯片(以下简称芯片)的检测要求、检测方法和检验规则等。本文件适用于符合ISO15693协议的高频射频识别芯片的鉴定验收和评价检测活动【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-06-08 | 实施时间: 2020-08-15收藏 -
现行
译:T/CIE 070-2020 Industrial Grade High Reliability Integrated Circuit Evaluation Part 4: Non-Volatile Memory适用范围:主要技术内容:本文件规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片(以下简称芯片)的检测要求、检测方法和检验规则等,暂不涉及ROM。本文件适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性存储器芯片的鉴定验收和评价检测活动【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-06-08 | 实施时间: 2020-08-15收藏 -
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译:T/CIE 067-2020 Industrial Grade High-Reliability Integrated Circuit Evaluation Part 1: AC/DC Circuit适用范围:主要技术内容:本文件规定了工业级高可靠AC/DC电路的检测要求、检测方法和检验规则等。本文件适用于工业级高可靠AC/DC电路的鉴定验收和评价检测活动【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-06-08 | 实施时间: 2020-08-15收藏 -
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译:T/JSSIA 0005-2017 Integrated circuit package - Plastic Quad Flat Package (PQFP)适用范围:范围:本标准规定了集成电路塑料封装的四边引线扁平封装(PQFP)的术语及定义、结构及外形尺寸、封装材料、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存; 主要技术内容:本标准规定了集成电路塑料封装的四边引线扁平封装(PQFP)的术语及定义、结构及外形尺寸、封装材料、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存,适用于PQFP系列封装【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2017-09-29 | 实施时间: 2017-10-01收藏