适用范围：本文件规定了阻变存储单元擦写、耐久性和数据保持等测试方法。 本文件适用于阻变存储器器件的测试。 本文件不适用于包含外部驱动电路的存储单元。

适用范围：本文件规定了FPGA芯片时序可靠性测试，包含了硬核IP、接口IP、互联等模块的时序可靠性评估方法。 本文件适用于FPGA的提供者、使用者和第三方评价FPGA芯片的时序可靠性。 注：第三方是指在FPGA芯片交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。

适用范围：本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。 本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。