• JB/T 5580-1991 半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法 现行
    译:JB/T 5580-1991 Special digital circuit testing method for semiconductor integrated circuits used in electromechanical and instrumentation
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1991-07-15 | 实施时间: 1992-07-01