国际标准分类(ICS)
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被代替
译：GB/T 14140.1-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏 -
现行
译：GB/T 14077-1993 Measurement specification for birefractance crystal and polarizer【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.20颜色和光的测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N05仪器、仪表用材料和元件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-08-01收藏
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被代替
译：GB/T 14140.2-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Micrometer method【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14141-1993 Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14142-1993 Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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现行
译：GB/T 14275-1993 Fiber optic modulators—Part 2:Sectional specification—Waveguide electrooptic modulators【国际标准分类号(ICS)】 ：33.180.30光纤放大器 【中国标准分类号(CCS)】 ：L51激光器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-04 | 实施时间： 1993-08-01收藏
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被代替
译：GB/T 14143-1993 300～900μm Silicon slices—Measuring of interstitial oxygen content—Infrared absorption method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14139-1993 Silicon epitaxial wafers【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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废止
译：GB/T 14138-1993 Requirements for aerial optical fiber cable systems joined to national public telecommunication network【国际标准分类号(ICS)】 ：33.180.30光纤放大器 【中国标准分类号(CCS)】 ：M33光通信设备发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-04 | 实施时间： 1993-08-01收藏
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被代替
译：GB/T 14144-1993 Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon【国际标准分类号(ICS)】 ：49.035航空航天制造用零部件 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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