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    适用范围:本文件描述了测定彩色照片长期暗存储稳定性的试验方法。 本文件适用于用传统照相材料制作的彩色照片。这些图像由显影、银染料漂白、染料转移、染料扩散瞬间转移系统或类似系统生成。 本文件中规定的测试方法还包括使用干式和液体调色剂电子照相术、热染料转移(有时称为“染料升华”)和喷墨打印系统产生的数字彩色图像的暗稳定性。
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    适用范围:本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下,且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行,其他晶体材料可参照执行。 本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。 注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。 注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。 注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况,将增大颗粒计数的不确定度。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-04-25 | 实施时间: 2024-11-01
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    译:GB/T 43889-2024 Microbeam analysis—Electron probe microanalyser(EPMA)—Guidelines for performing quality assurance procedures
    适用范围:本文件提供了对电子探针显微分析仪(EPMA)进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序,确认仪器状态正常,或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。 本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作(例如峰干扰)的能力,有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。 本文件适用于电子探针和其他波谱仪(WDS)系统,该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪(EDS)进行的元素分析。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 :N53电化学、热化学、光学式分析仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-04-25 | 实施时间: 2024-11-01
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