国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
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译：GB/T 5195.18-2018 Fluorspar—Determination of barium sulfate content—Gravimetric method适用范围：GB/T 5195的本部分规定了重量法测定萤石中硫酸钡含量的方法。 本部分适用于酸级和陶瓷级萤石中硫酸钡含量的测定，测定范围(质量分数)：0.10%以上。【国际标准分类号(ICS)】 ：73.080非金属矿 【中国标准分类号(CCS)】 ：D52冶金辅助原料矿发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏 -
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译：GB/T 5169.25-2018 Fire hazard testing for electric and electronic products—Part 25:Smoke obscuration—General guidance适用范围：GB/T 5169的本部分给出的导则涉及以下方面： a)烟模糊的光学测量； b)光学烟试验方法概况； c)选择试验方法时需要考虑的问题； d)烟试验数据的表达； e)光学烟数据与危险评估的相关性。 产品标委会的任务之一就是在编写自己的出版物时，凡适用之处都要使用这些基本安全出版物。【国际标准分类号(ICS)】 ：13.220.99有关消防的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：K04基础标准和通用方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-04-01收藏
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译：GB/T 4937.21-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 21:Solderability适用范围：GB/T 4937的本部分规定了采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的可焊性试验程序。 本试验方法规定了通孔、轴向和表面安装器件(SMDs)的“浸入和观察”可焊性试验程序，以及可选的SMDs板级安装可焊性试验程序，用于模拟在元器件使用时采用的焊接过程。本试验方法也规定了老化条件,该条件为可选。 除有关文件另有规定外，本试验属于破坏性试验。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 5167-2018 Sintered metal materials and hardmetals—Determination of electrical resistivity适用范围：本标准规定了烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.160粉末冶金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏
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译：GB/T 4937.20-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20:Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat适用范围：GB/T 4937的本部分规定了塑封表面安装半导体器件(SMD)的耐焊接热评价方法。该试验为破坏性试验。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 5195.17-2018 Fluorspar—Determination of flotation agents—Gravimetric method适用范围：GB/T 5195的本部分规定了重量法测定萤石中浮选剂含量的方法。 本部分适用于浮选法生产的萤石中浮选剂含量的测定，测定范围（质量分数）：0.002%以上。【国际标准分类号(ICS)】 ：73.080非金属矿 【中国标准分类号(CCS)】 ：D52冶金辅助原料矿发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏
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译：GB/T 4937.22-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 22:Bond strength适用范围：GB/T 4937的本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）。 本部分的目的是测量键合强度或确定键合强度是否满足规定的要求。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 4937.30-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 5195.19-2018 Fluorspar—Determination of arsenic content—Silver diethyldithiocarbamate spectrometric method适用范围：GB/T 5195的本部分规定了二乙基二硫代氨基甲酸银光度法测定砷含量。 本部分适用于萤石中砷含量的测定。测定范围(质量分数):0.000 2%～0.050 0%。【国际标准分类号(ICS)】 ：73.080非金属矿 【中国标准分类号(CCS)】 ：D52冶金辅助原料矿发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏
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译：GB/T 5169.24-2018 Fire hazard testing for electric and electronic products—Part 24:Guidance for assessing the fire hazard—Insulating liquids适用范围：GB/T 5169的本部分给出了将电气绝缘液体产生的着火危险降至最小的导则，这些绝缘液体的使用涉及： a)电工设备和系统； b)人群、建筑物及其中的物品。 本部分旨在供产品标委会根据IEC指南104：2010和ISO/IEC指南51：1999中规定的原则编写标准。并不适用于制造商或认证机构。 产品标委会的任务之一就是在编写标准时，凡适用之处都要使用本部分。【国际标准分类号(ICS)】 ：13.220.40材料和制品的可燃性和燃烧性能 【中国标准分类号(CCS)】 ：K04基础标准和通用方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-04-01收藏
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