• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2024
  3. 2023
  4. 2022
  5. 2021
  6. 2020
  7. 2019及以前

• 现行
  DB65/T 3486-2013 太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
  译：DB65/T 3486-2013 The infrared inspection method for solar grade multi-crystalline silicon blocks
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H80/84半金属与半导体材料
  发布单位或类别：(CN-DB65)新疆维吾尔自治区地方标准 | 发布时间： 2013-10-20 | 实施时间： 2013-12-01
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• 现行
  DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
  译：DB65/T 3485-2013 Solar-grade multicrystalline silicon block minority carrier lifetime measurement method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H80/84半金属与半导体材料
  发布单位或类别：(CN-DB65)新疆维吾尔自治区地方标准 | 发布时间： 2013-09-20 | 实施时间： 2013-12-01
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