国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：GB/T 23414-2009 Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary适用范围：本标准定义了扫描电子显微术（SEM）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。【国际标准分类号(ICS)】 ：01.040.37成像技术 (词汇) 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2009-04-01 | 实施时间： 2009-12-01收藏 -
被代替
译：GB/T 4315.1-1984 Optical transfer function—Terminology, symbol【国际标准分类号(ICS)】 ：01.040词汇 【中国标准分类号(CCS)】 ：N30/39光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1984-04-12 | 实施时间： 1985-02-01收藏
现行
被代替