适用范围：本文件描述了显示用曲面有机发光二极管（OLED）光源（以下简称“曲面光源”）的光学性能测试方法。本文件适用于围绕一轴弯曲的曲面光源的光学性能测试。

适用范围：本文件规定了激光显示器件单色散斑对比度的标准测量条件和测量方法。本文件适用于全部为激光光源以及包含激光光源（一个或多个)和自发辐射光源（例如发光二极管)的混合型光源的激光显示器件。注： 单色散斑对比度测量不包含图像质量的内容。

适用范围：本文件规定了光电二极管（以下简称“PDs”）和光电晶体管（以下简称“PTs”）的术语、基本额定值和特性以及测试方法。本文件适用于光电二极管和光电晶体管。

适用范围：本文件规定了液晶显示（LCD）屏和无源矩阵单色液晶显示（LCD）模块的基本额定值和特性要求。本文件适用于液晶显示（LCD）屏和无源矩阵单色液晶显示（LCD）模块的评价。

适用范围：本文件规定了室内LED显示屏（以下简称“显示屏”）的分类、要求、测试方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于显示图文及视频等信息的全彩大间距、中间距、小间距、微小间距、超小间距显示屏产品。

适用范围：本文件规定了光电耦合器的基本额定值、特性、安全试验及测试方法。

适用范围：本文件描述了多目拼接全景成像设备（以下简称全景成像设备）的光学性能的测试设备、测试条件和测试方法。 本文件适用于多目拼接全景成像设备光学性能的测试。

适用范围：本文件描述了热电型太赫兹探测器参数测试的原理、试验条件、仪器设备、样品、试验步骤和试验数据处理。 本文件适用于热电型太赫兹探测器。太赫兹高莱探测器和太赫兹量子阱探测器参照执行。

适用范围：本文件规定了均匀光源的技术要求以及包装运输要求，描述了测试方法。本文件适用于结构形式为球型、平板型和准直型，光辐射波长或波段范围在220 nm~2 500 nm(含)，用于光电测量与校准或照明的具有均匀辐射特性的光源，用于其分类、设计和测试。

适用范围：本文件界定了激光显示器件及相关组件所优选的术语、定义和符号。 本文件适用于采用激光作为光源的激光显示器件。

适用范围：本文件描述了用灰度显示影像的灰度标准显示函数的标定原理、标定条件、标定材料、仪器设备、标定步骤、标定数据的处理、标定（测量）的不确定度等。 本文件适用于用于影像显示的电子显示媒介（例如显示器、投影显示设备、显示屏等）和打印显示媒介（例如打印机、印刷机等）显示的灰度，主要是医学影像，其他影像参照使用。

适用范围：本文件描述了龙虾眼型聚焦光学元件的X射线焦距、十字臂垂直度、点扩散函数均匀性、角分辨率、有效面积、有效面积均匀性、半能宽等性能的测试方法。 本文件适用于空间天文、医疗成像、海关检测、物质分析等X射线聚焦成像领域使用的龙虾眼型聚焦光学元件的性能测试。其他用途的龙虾眼型聚焦光学元件参照使用。

适用范围：本文件描述了分布式光纤应变测试系统主要参数的测试方法。 本文件适用于分布式光纤应变测试系统主要参数的测试。

适用范围：本文件描述了依据GB/T 30117（所有部分）确定灯和灯系统可达光辐射水平所要进行的辐射度和光谱辐射度测量方法。  本文件适用于制造商、测试机构、安全人员和其他相关人员等的实际测量使用。注： 本文件涉及A级评估和B级评估。A级评估是准确的测量方法，使用精密的光谱辐射测量设备对可达光辐射进行测量，可在所有情况下使用；B级评估是使用普通简便的仪器进行测量，只作为初步筛查，不适合作为严格评判出具报告时使用。

适用范围：本文件规定了一般工业应用的发光二极管（LED）的术语、基本额定值和特性、测试方法和质量评定，涉及信号器、控制器、传感器等。本文件不包括照明用LED。LED分为以下五种类型：a)LED器件；b)LED平面发光器件；c)LED数字显示和字母数字显示；d)显示用点阵LED；e)红外发射二极管（IR LED）；f)紫外发射二极管（UV LED）。本文件包括带有散热器或具有同等散热器功能的LED。

适用范围：本文件描述了通信用光器件的相对频率响应、绝对频率响应、工作带宽、频响平坦度、相位、群时延、传输系数、反射系数、阻抗、互调失真等频响参数测试的原理,测试条件及要求,测试仪器,测试参数及测试方法。 本文件适用于电光器件、光电器件和光光器件等通信用光器件的频响参数测试。

适用范围：本文件描述了可穿戴设备的光辐射安全测量方法，包括测量条件、测量设备及测量步骤等。本文件适用于发射波长为200 nm~3 000 nm非相干光的可穿戴设备的测量。

适用范围：本文件描述了激光束的波长、带宽和波长稳定性等光谱特性的测量方法。 本文件适用于连续和脉冲激光束的光谱特性测量。

适用范围：本文件描述了微透镜阵列中微透镜波前像差测试的测试装置及设备、测试前准备、测试原理及测试程序等内容。 本文件适用于在共同基底的内部或一个或多个表面上形成的由非常小的透镜组成的微透镜阵列的波前像差测试。

适用范围：本文件界定了微透镜阵列的术语和定义。本文件适用于在同一基片的内部或表面上的微透镜阵列及其系统。