适用范围：本文件规定了焊接钢管用钢带/钢板在制钢管前或制管过程中进行分层缺欠自动超声检测的要求。 注1： 对于焊接钢管，由制造商选择，在焊接后根据ISO 10893-8对钢管的分层缺欠进行自动超声检测作为替代方法。 注2： 经制造商和购方协议，本文件也适用于埋弧焊钢管焊接后的钢带/钢板检测。 本文件也适用于圆形空心钢制型材制造用钢带/钢板的检测。

适用范围：本文件描述了激光散射法测试碳化硅外延片表面缺陷的方法。 本文件适用于4H-SiC外延片的表面缺陷测试。

适用范围：本文件描述了铝合金产品断裂韧度的试验方法。 本文件适用于铝合金轧制板材、挤压棒材、挤压板材、挤压管材、挤压型材和锻件产品的平面应变断裂韧度和平面应力断裂韧度的测定。

适用范围：本文件描述了采用光反射法以20°、60°或85°几何条件测试硅片表面光泽度的方法。 本文件适用于硅腐蚀片、抛光片、外延片表面光泽度的测试，不适用于表面有图形的硅片的测试。

适用范围：本文件规定了金属材料动态撕裂试验的试样及其制备、试验机、试验程序、剪切断面率的测算、试验结果处理以及试验报告。 本文件适用于测定洛氏硬度值小于36 HRC的金属材料或焊接接头试样的动态撕裂能和剪切断面率。

适用范围：本文件规定了变形铝、镁及其合金加工制品拉伸试验的试样要求和试验方法。本文件适用于变形铝、镁及其合金板、带、箔、管、棒、型、线、锻件等加工制品的室温、高温及低温拉伸试验。

适用范围：本文件描述了铝箔拉伸试验、杯突试验、破裂试验等力学性能测试方法。 本文件适用于铝箔室温拉伸性能、杯突值及破裂强度的测试。

适用范围：本文件描述了用酸从多晶硅表面浸取金属杂质，并用电感耦合等离子质谱仪定量检测多晶硅表面金属杂质含量的方法。本文件适用于太阳能级多晶硅和电子级多晶硅表面碱金属、碱土金属和第一系列过渡元素如钠、钾、钙、铁、镍、铜、锌、铝等杂质元素含量的测定，测定范围为0.01 ng/g。

适用范围：本文件规定了多晶硅棒取样、将样品区熔拉制成单晶以及通过低温红外光谱法或光致发光光谱法对拉制好的单晶硅棒进行分析以确定多晶硅中施主、受主、代位碳和间隙氧杂质含量等的规程。本文件适用于评价硅芯上沉积生长的棒状多晶硅。

适用范围：本文件描述了采用红外反射法测试碳化硅外延层厚度的方法。 本文件适用于n型掺杂浓度大于1×1018  cm-3的碳化硅衬底上同质掺杂浓度小于1×1016 cm-3的同质碳化硅外延层厚度的测试，测试范围为3 μm～200 μm。

适用范围：本文件描述了X射线衍射定向和光图定向测定半导体单晶晶向的方法。 本文件适用于半导体单晶晶向的测定。X射线衍射定向法适用于测定硅、锗、砷化镓、碳化硅、氧化镓、氮化镓、锑化铟和磷化铟等大致平行于低指数原子面的半导体单晶材料的表面取向；光图定向法适用于测定硅、锗等大致平行于低指数原子面的半导体单晶材料的表面取向。

适用范围：本文件规定了自动超声检测分层缺欠的要求，包括： a) 无缝和焊接钢管管体(埋弧焊钢管除外)的全圆周检测； b) 焊接钢管焊缝的邻近区域检测； c) 无缝和焊接钢管管端的全圆周检测。 本文件也适用于圆形空心型材的检测。 注：对于焊接钢管，钢管成型前钢带/钢板分层缺欠检测的方法见ISO 10893-9。

适用范围：本文件规定了铁磁性无缝和焊接钢管的管体表面缺欠和管端端面/坡口缺欠的磁粉检测要求。本文件规定了钢管全部或部分管体外表面缺欠的检测要求。经买方和制造商协商同意，可适用于距离管端有限长度（取决于钢管直径）的内表面检测。本文件在适用时，可用于由其他无损检测（如超声）方法检测到的外表面缺欠在修磨前的定位，以及缺欠在修磨后被彻底清除的确认。本文件规定了平端管和坡口面管两端的端面/坡口处可能影响后续制造和检测（如焊接和焊缝超声检测）的层状缺欠的检测要求。本文件适用于端面/坡口上层状缺欠及其他缺欠的检测。在此情况下，磁场方向尽量垂直于被检缺欠的方向。本文件也适用于空心部件的检测。

适用范围：本文件规定了金属材料蠕变裂纹及蠕变疲劳裂纹扩展速率试验相关的符号和说明、试验原理、试样设计、试验程序、试验结果处理及试验报告。 本文件适用于在恒定温度时静态或准静态载荷下，测定金属均质材料及金属焊接接头的蠕变裂纹起裂时间以及蠕变裂纹扩展速率；在恒定温度时单轴循环载荷下，测定金属均质材料的蠕变疲劳裂纹扩展速率。

适用范围：本文件描述了用非接触式涡流感应法测试太阳能电池用单晶硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的方法。本文件适用于非平衡载流子复合寿命在0.1 μs～10 000 μs、电阻率在0.1 Ω·cm～10 000 Ω·cm的硅锭、硅块和硅片的测试。其中瞬态光电导衰减法适用于非平衡载流子复合寿命小于100 μs时硅锭、硅块和硅片的测试，准稳态光电导法适用于非平衡载流子复合寿命大于200 μs时硅锭、硅块和硅片的测试，非平衡载流子复合寿命在100 μs～200 μs时，两种测试方法均适用。

适用范围：本文件规定了无缝和焊接钢管表面缺欠液体渗透检测的要求。 本文件适用于钢管全部或部分表面的缺欠检测，也适用于空心型材的检测。

适用范围：本文件描述了采用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中代位碳、间隙氧含量的方法。 本文件适用于室温电阻率大于1 Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于3 Ω·cm的p型硅单晶中代位碳、间隙氧含量的测定，测定范围(以原子数计)为2.5×1014 cm-3~1.5×1017 cm-3。

适用范围：本文件规定了非本征硅单晶和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的光电导衰减测试方法。本文件适用于非本征硅单晶和锗单晶中非平衡少数载流子寿命的测试。直流光电导衰减脉冲光法可测试具有特殊尺寸的长方体或圆柱体样品，测试硅单晶的最短寿命值为50 μs，测试锗单晶最短寿命值为10 μs。高频光电导衰减法可测试棒状或块状样品，测试硅单晶和锗单晶的最短寿命值为10 μs。注： 直流光电导衰减方法有两种：直流光电导衰减脉冲光法和直流光电导衰减斩波光法（见附录A）。

适用范围：本文件描述了铝及铝合金产品的压缩试验方法。本文件适用于板材、管材、棒材、型材、锻件等铝及铝合金产品压缩性能的测定。