国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：GB/T 30110-2013 Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors适用范围：本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞（HgCdTe）外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。 本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试，其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：49.060航空航天用电气设备和系统 【中国标准分类号(CCS)】 ：H80/84半金属与半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2013-12-17 | 实施时间： 2014-05-15收藏 -
被代替
译：GB/T 14144-1993 Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon【国际标准分类号(ICS)】 ：49.035航空航天制造用零部件 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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废止
译：GB/T 14145-1993 Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy【国际标准分类号(ICS)】 ：49.090机上设备和仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
现行
被代替
废止